| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·课题提出的背景 | 第11-13页 |
| ·数字电路可测试设计技术的提出 | 第11-12页 |
| ·多板卡电子系统的可测试设计技术的提出 | 第12-13页 |
| ·多板卡电子系统可测性设计的国内外发展现状 | 第13-14页 |
| ·本课题的意义和实用价值 | 第14-16页 |
| ·毕业设计所完成的工作 | 第16-18页 |
| 第二章 电路与电子系统可测性设计技术 | 第18-35页 |
| ·电路与电子系统可测性设计方法 | 第18-20页 |
| ·可测性的改善设计 | 第18-19页 |
| ·可测性的结构设计 | 第19页 |
| ·常用的可测性的设计技术 | 第19-20页 |
| ·边界扫描测试可测性技术 | 第19页 |
| ·模拟和混合信号电路的可测性设计技术 | 第19-20页 |
| ·模块测试和维护总线的可测性设计技术 | 第20页 |
| ·内嵌芯核的可测性设计技术 | 第20页 |
| ·边界扫描测试技术原理 | 第20-29页 |
| ·边界扫描测试的简介 | 第20-21页 |
| ·边界扫描测试的逻辑结构 | 第21-22页 |
| ·边界扫描单元 | 第22-23页 |
| ·TAP 和 TAP 控制器 | 第23-27页 |
| ·边界扫描寄存器和测试指令 | 第27-28页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第27-28页 |
| ·边界扫描测试指令 | 第28页 |
| ·边界扫描文档 | 第28-29页 |
| ·模块测试维护总线技术原理 | 第29-35页 |
| ·MTM-Bus 总线硬件结构 | 第29-30页 |
| ·MTM-Bus 工作模型 | 第30-31页 |
| ·MTM-Bus 消息层 | 第31-32页 |
| ·MTM-Bus 链路层 | 第32-34页 |
| ·MTM-Bus 物理层 | 第34-35页 |
| 第三章 多板卡电子系统的可测性设计方案 | 第35-48页 |
| ·测试实验背板总体方案设计 | 第35页 |
| ·测试实验背板各模块功能介绍 | 第35-36页 |
| ·测试控制器内部各模块设计 | 第36-44页 |
| ·主控器模块 | 第36-38页 |
| ·接口控制模块 | 第38-39页 |
| ·总线接口模块 | 第39-41页 |
| ·数据处理模块 | 第41-43页 |
| ·数据存储模块 | 第43页 |
| ·寄存器组 | 第43-44页 |
| ·测试控制器的工作流程 | 第44-46页 |
| ·测试控制器的功能特点 | 第46-48页 |
| ·具有自测试功能 | 第46-47页 |
| ·测试过程自动化程度高 | 第47页 |
| ·检测被测板卡故障的效率高 | 第47-48页 |
| 第四章 多板卡电子系统可测性技术的硬件实现 | 第48-61页 |
| ·硬件电路结构 | 第48-49页 |
| ·测试控制器的硬件实现 | 第49-51页 |
| ·测试控制器的器件选型 | 第49页 |
| ·FPGA 硬件电路设计 | 第49-51页 |
| ·FPGA 开发工具 | 第51页 |
| ·被测板卡电路设计 | 第51-53页 |
| ·串口电平转换芯片电路设计 | 第53-54页 |
| ·显示模块电路设计 | 第54页 |
| ·电源电路设计 | 第54-61页 |
| ·电压转换芯片的选取 | 第54-56页 |
| ·测试实验背板硬件电路的功率估算 | 第56-58页 |
| ·电压转换芯片功耗估算 | 第57页 |
| ·串口电平转换芯片 | 第57页 |
| ·型号为 EP2C8Q208 的 FPGA 的功耗 | 第57页 |
| ·显示模块的功率估算 | 第57-58页 |
| ·单只 LED 及其限流电阻的功率估算 | 第58页 |
| ·被测芯片 CPLD 的功率估算 | 第58页 |
| ·测试实验背板和被测板卡总功率估算 | 第58-59页 |
| ·直流电压源供电设计 | 第59-61页 |
| 第五章 多板卡电子系统可测性设计的测试实验 | 第61-76页 |
| ·测试实验的内容 | 第61页 |
| ·测试软件界面设计 | 第61-63页 |
| ·测试软件操作流程 | 第63页 |
| ·测试实验背板实测及算法分析举例 | 第63-76页 |
| ·系统自检 | 第64-65页 |
| ·单板卡外测试 | 第65-72页 |
| ·芯片识别 | 第65-66页 |
| ·与电源和地短路测试 | 第66-67页 |
| ·使芯片指定引脚输出电平值的功能演示 | 第67-69页 |
| ·芯片互连测试 | 第69-72页 |
| ·多板卡测试 | 第72-74页 |
| ·内测试 | 第74-76页 |
| 第六章 结束语 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 附录 | 第82-83页 |
| 在学期间研究成果及发表的学术论文 | 第83-84页 |