基于FPGA的数字IC时间参数测试技术研究

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-9页
第一章 绪论	第9-14页
·研究背景及意义	第9页
·国内外发展现状	第9-11页
·集成电路测试系统概述	第11-13页
·论文主要的研究内容和组织结构	第13-14页
第二章 数字集成电路时间参数测试技术	第14-22页
·时间参数测试技术概述	第14-18页
·基于Go/No Go 的测量方法	第17页
·基于存储响应的测量方法	第17-18页
·基于时间间隔的测量方法	第18页
·时间参数测试的内容和测试方法	第18-20页
·Tr/Tf 测试	第18-19页
·Tw 和Tdr 测试	第19页
·Tpld 测试	第19-20页
·F 和T 测试	第20页
·本章小结	第20-22页
第三章 时间参数测试板硬件设计	第22-50页
·数字集成电路测试系统概述	第22-24页
·时间参数测试板硬件设计	第24-45页
·采样整形单元的设计	第25-30页
·时间间隔测量单元的设计	第30-41页
·主控单元的设计	第41-42页
·基于DDS 的可编程激励信号源设计	第42-45页
·时间参数测试板FPGA 设计	第45-49页
·控制核心FPGA 设计	第45-48页
·测量单元FPGA 设计	第48-49页
·本章小结	第49-50页
第四章 时间参数测试板驱动函数设计	第50-59页
·DA 的设定和软件的校正	第50页
·频率和周期的测量	第50-52页
·时间间隔的测量	第52-56页
·DDS 的设定	第56-58页
·本章小结	第58-59页
第五章 测试和结果分析	第59-69页
·系统测试及测试结果	第59-68页
·测试数据	第59-66页
·测试结果分析与误差讨论	第66-68页
·本章小结	第68-69页
第六章 总结与展望	第69-71页
致谢	第71-72页
参考文献	第72-74页
攻硕期间取得的研究成果	第74-75页