| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| ·概述 | 第11-12页 |
| ·测试机 J750 | 第12-17页 |
| ·测试机简介 | 第12-13页 |
| ·J750 测试系统 | 第13-14页 |
| ·J750 软件 | 第14-17页 |
| ·软件 Verilog HDL | 第17-19页 |
| ·论文内容和结构 | 第19-20页 |
| 第2章 可编程器件 CPLD | 第20-32页 |
| ·简介 | 第20页 |
| ·结构描述 | 第20-28页 |
| ·功能块 | 第22-23页 |
| ·宏单元 | 第23-24页 |
| ·乘积项分配器 | 第24页 |
| ·FastCONNECT 开关矩阵 | 第24-25页 |
| ·I/O 块（IOB） | 第25-27页 |
| ·持续性 | 第27页 |
| ·低功率模式 | 第27页 |
| ·家电特性 | 第27-28页 |
| ·系统内编程 | 第28-29页 |
| ·JTAG 边界扫描接口 | 第28-29页 |
| ·产生边界扫描连 | 第29页 |
| ·HWD9572 系统可编程 CPLD | 第29-32页 |
| ·HWD9572 系统可编程CPLD 特点 | 第29-30页 |
| ·HWD9572 系统可编程 CPLD 描述 | 第30-32页 |
| 第3章 直流参数测试理论及测试过程 | 第32-38页 |
| ·开路和短路测试 | 第32-34页 |
| ·开路/短路测试原理 | 第32页 |
| ·J750 测试机上的开路/短路测试 | 第32-34页 |
| ·IIL/IIH 测试 | 第34-36页 |
| ·IIL/IIH 测试理论基础 | 第34-35页 |
| ·J750 测试机上的IIL/IIH 测试 | 第35-36页 |
| ·高阻态电流（IOZL/IOZH）测试 | 第36-38页 |
| ·高阻态电流（IOZL/IOZH）的测试原理 | 第36页 |
| ·J750 测试机上高阻态电流（IOZL/IOZH）的测试 | 第36-38页 |
| 第4章 交流参数及功能测试 | 第38-62页 |
| ·输出高低电压（VOH/VOL）的测试 | 第38-48页 |
| ·静态测试输出高低电压（VOH/VOL）工作原理 | 第38-39页 |
| ·功能测试输出高低电压（VOH/VOL）工作原理 | 第39-40页 |
| ·J750 的VOH/VOL 测试 | 第40-48页 |
| ·电源电流的 ICC 测试 | 第48-49页 |
| ·ICC 的测试原理 | 第48页 |
| ·J750 测试机上的ICC 测试 | 第48-49页 |
| ·16 位计数器的功能测试 | 第49-53页 |
| ·测量 TCO时钟有效到输出的延时 | 第53-57页 |
| ·传播延时测量原理 | 第53页 |
| ·J750 测试机测量TCO时钟有效到输出的延时 | 第53-57页 |
| ·逻辑0 到高阻态的延迟 Tplz | 第57-62页 |
| ·延迟Tplz的测试方案 | 第57-59页 |
| ·OUT1 逻辑0 到高阻态的延迟在测试机J750 上的测试 | 第59-62页 |
| 第5章 测试结果与分析 | 第62-76页 |
| ·J750 测试机的数据采集 | 第62-63页 |
| ·VOH/VOL 的测试结果与分析 | 第63-67页 |
| ·输出高电压的测试结果 | 第63-65页 |
| ·输出低电平测试结果 | 第65-66页 |
| ·输出高低电平的结果分析 | 第66-67页 |
| ·ICC 的测试结果与分析 | 第67-68页 |
| ·IIL/IIH 的测试结果与分析 | 第68-69页 |
| ·高阻态输出漏电流的测试结果与分析 | 第69-70页 |
| ·16 位非同步计数器的测试结果与分析 | 第70-72页 |
| ·测试项 TCO的测试结果与分析 | 第72-73页 |
| ·T_(plz)的测试结果与分析 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |