嵌入式SRAM内建自测试的测试实现

摘要	第1-4页
Abstract	第4-5页
引言	第5-6页
第一章 存储器测试概论	第6-17页
第一节 存储器测试的背景和意义	第6-7页
第二节 存储器的电路模型	第7-11页
第三节 存储器的主要失效模型	第11-13页
第四节 存储器的重要测试算法	第13-14页
第五节 存储器主要测试方法研究	第14-17页
第二章 嵌入式SRAM BIST的设计实现	第17-33页
第一节 嵌入式SRAM BIST技术简介	第17-22页
第二节 基于LFSR的BIST架构	第22-30页
第三节 自上向下的SRAM BIST设计流程	第30-33页
第三章 嵌入式SRAM BIST的测试实现	第33-44页
第一节 被测试芯片简介	第33-36页
第二节 自动测试系统(ATE)的选择和资源配置	第36-37页
第三节 测试向量生成	第37-39页
第四节 测试程序架构和流程	第39-44页
第四章 扩展测试工具	第44-48页
第一节 GPIB连接示波器测试AC参数	第44-48页
第五章 SRAM BIST测试数据的处理和分析	第48-53页
一. SRAM BIST的测试条件	第48页
二. 测试数据的自动保存	第48-49页
三. 测试数据的处理	第49-53页
第六章 结论与展望	第53-54页
参考文献	第54-55页
致谢	第55-56页