SOC可测性技术研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·SOC设计方法 | 第10-11页 |
| ·可测性设计技术 | 第11-15页 |
| ·故障模型 | 第11-12页 |
| ·测试生成 | 第12页 |
| ·扫描测试设计 | 第12-14页 |
| ·内建自测试 | 第14-15页 |
| ·边界扫描设计 | 第15页 |
| ·本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 SOC的测试体系结构 | 第16-30页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·SOC测试结构 | 第16-17页 |
| ·基于IEEE 1500标准的测试封装 | 第17-26页 |
| ·IEEE 1500标准 | 第17-18页 |
| ·基于IEEE 1500标准的测试壳结构 | 第18-23页 |
| ·测试壳指令集 | 第23-24页 |
| ·测试壳加装 | 第24-26页 |
| ·测试访问机制(TAM) | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 SOC测试调度方法 | 第30-37页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·测试调度方法分析 | 第31-34页 |
| ·整数线性规划(ILP) | 第31-33页 |
| ·装箱问题 | 第33-34页 |
| ·仿真实验 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 SOC测试实验平台硬件结构设计 | 第37-51页 |
| ·硬件设计思路 | 第37-38页 |
| ·SOC测试实验平台设计目标 | 第37页 |
| ·硬件平台方案 | 第37-38页 |
| ·具体模块电路设计 | 第38-41页 |
| ·数据传输接口设计 | 第38-39页 |
| ·控制电路设计 | 第39-40页 |
| ·显示电路设计 | 第40-41页 |
| ·SOC测试调度控制器设计 | 第41-48页 |
| ·测试调度控制器整体逻辑规划 | 第41-43页 |
| ·测试调度控制器内各部分结构设计 | 第43-48页 |
| ·DSP功能描述 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 SOC测试实验平台软件体系结构 | 第51-56页 |
| ·SOC测试实验平台软件界面 | 第51页 |
| ·被测核选择及故障注入部分 | 第51-53页 |
| ·测试调度结果的生成及显示部分 | 第53-55页 |
| ·测试数据传递部分 | 第55页 |
| ·故障分析部分 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第6章 实验验证 | 第56-64页 |
| ·功能测试 | 第56-58页 |
| ·单故障测试 | 第58-60页 |
| ·多个IP核测试调度分配实验 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
