集成电路测试仪控制模块及驱动设计
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-16页 |
·课题背景 | 第9页 |
·集成电路测试仪的发展 | 第9-11页 |
·嵌入式系统在测试仪控制模块中的应用 | 第11页 |
·测试仪中总线技术概述 | 第11-14页 |
·外部总线 | 第12-13页 |
·内部总线 | 第13-14页 |
·本文的研究目的及内容 | 第14-16页 |
第二章 控制模块的方案设计 | 第16-37页 |
·测试仪总体方案设计 | 第16-17页 |
·系统软件求分析 | 第17-18页 |
·上位机软件层次结构 | 第17-18页 |
·下位机软件层次结构 | 第18页 |
·系统硬件求分析 | 第18-22页 |
·总线的定义与时序 | 第18-20页 |
·本地总线的定义和时序 | 第20-22页 |
·本地总线的地址空间分配 | 第22页 |
·控制系统需求 | 第22-29页 |
·控制模块处理器选型 | 第24页 |
·CPU 板存储器方案 | 第24-27页 |
·控制模块外围器件方案 | 第27-29页 |
·控制模块信号完整性设计 | 第29-32页 |
·布线前仿真 | 第29-31页 |
·参考层的叠层设计 | 第31-32页 |
·核心板布局布线 | 第32-36页 |
·核心板布局 | 第32-34页 |
·核心板布线 | 第34-36页 |
·小结 | 第36-37页 |
第三章 控制系统引导程序设计 | 第37-56页 |
·引导程序需求分析 | 第37-39页 |
·引导程序功能实现 | 第39-48页 |
·CEFBoot 阶段一启动具体实现以及流程分析 | 第40-44页 |
·CEFBoot 阶段二启动具体实现以及流程分析 | 第44-48页 |
·USB 测试程序下载 | 第48-52页 |
·NAND FLASH 烧写测试程序 | 第52-54页 |
·NAND FLASH 错误检测与恢复 | 第54-55页 |
·小结 | 第55-56页 |
第四章 驱动程序设计 | 第56-77页 |
·内部总线驱动 | 第56-60页 |
·内部总线驱动程序实现 | 第58-60页 |
·人机接口驱动 | 第60-62页 |
·人机接口驱动程序实现 | 第61-62页 |
·键盘接口驱动 | 第62页 |
·USB 总线驱动 | 第62-68页 |
·USB 总线的结构 | 第66-68页 |
·USB 总线驱动设计 | 第68-69页 |
·驱动程序的调试和安装 | 第69-75页 |
·驱动程序的调试 | 第69-73页 |
·驱动程序的安装 | 第73-75页 |
·驱动程序的测试 | 第75-76页 |
·小结 | 第76-77页 |
第五章 总结与展望 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-81页 |
攻读硕期间取得的研究成果 | 第81-82页 |