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集成电路测试仪控制模块及驱动设计

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第一章 绪论第9-16页
   ·课题背景第9页
   ·集成电路测试仪的发展第9-11页
   ·嵌入式系统在测试仪控制模块中的应用第11页
   ·测试仪中总线技术概述第11-14页
     ·外部总线第12-13页
     ·内部总线第13-14页
   ·本文的研究目的及内容第14-16页
第二章 控制模块的方案设计第16-37页
   ·测试仪总体方案设计第16-17页
   ·系统软件求分析第17-18页
     ·上位机软件层次结构第17-18页
     ·下位机软件层次结构第18页
   ·系统硬件求分析第18-22页
     ·总线的定义与时序第18-20页
     ·本地总线的定义和时序第20-22页
     ·本地总线的地址空间分配第22页
   ·控制系统需求第22-29页
     ·控制模块处理器选型第24页
     ·CPU 板存储器方案第24-27页
     ·控制模块外围器件方案第27-29页
   ·控制模块信号完整性设计第29-32页
     ·布线前仿真第29-31页
     ·参考层的叠层设计第31-32页
   ·核心板布局布线第32-36页
     ·核心板布局第32-34页
     ·核心板布线第34-36页
   ·小结第36-37页
第三章 控制系统引导程序设计第37-56页
   ·引导程序需求分析第37-39页
   ·引导程序功能实现第39-48页
     ·CEFBoot 阶段一启动具体实现以及流程分析第40-44页
     ·CEFBoot 阶段二启动具体实现以及流程分析第44-48页
   ·USB 测试程序下载第48-52页
   ·NAND FLASH 烧写测试程序第52-54页
   ·NAND FLASH 错误检测与恢复第54-55页
   ·小结第55-56页
第四章 驱动程序设计第56-77页
   ·内部总线驱动第56-60页
     ·内部总线驱动程序实现第58-60页
   ·人机接口驱动第60-62页
     ·人机接口驱动程序实现第61-62页
   ·键盘接口驱动第62页
   ·USB 总线驱动第62-68页
     ·USB 总线的结构第66-68页
   ·USB 总线驱动设计第68-69页
   ·驱动程序的调试和安装第69-75页
     ·驱动程序的调试第69-73页
     ·驱动程序的安装第73-75页
   ·驱动程序的测试第75-76页
   ·小结第76-77页
第五章 总结与展望第77-78页
致谢第78-79页
参考文献第79-81页
攻读硕期间取得的研究成果第81-82页

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