微波平面电路网络S参数测试校准方法的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·课题来源及研究的目的和意义 | 第7页 |
| ·微波探针的校准方法 | 第7-8页 |
| ·本文完成的工作 | 第8-9页 |
| 第二章 矢量网络分析仪的工作原理 | 第9-19页 |
| ·微波网络的S 参数及与其它参数的转换 | 第9-10页 |
| ·S 参数简介 | 第9页 |
| ·S 参数与Y 参数、Z 参数的关系 | 第9-10页 |
| ·矢量网络分析仪的工作原理 | 第10-12页 |
| ·矢量网络分析仪的误差来源 | 第12-15页 |
| ·常用校准方法 | 第15-17页 |
| ·误差修正方法研究中的问题 | 第17-19页 |
| 第三章 矢量网络分析仪误差修正 | 第19-39页 |
| ·完整的误差模型 | 第19-20页 |
| ·12 项误差模型及其修正方法 | 第20-25页 |
| ·12 误差模型 | 第20-21页 |
| ·12 项误差模型修正方法 | 第21-25页 |
| ·10 项误差模型及其修正方法 | 第25-33页 |
| ·10 项误差模型 | 第25-27页 |
| ·10 项误差模型修正方法 | 第27-32页 |
| ·相位不确定性 | 第32-33页 |
| ·8 项误差模型及其修正方法 | 第33-39页 |
| ·8 项误差模型 | 第33-35页 |
| ·8 项误差模型修正方法 | 第35-39页 |
| 第四章 在片测试系统的建立 | 第39-49页 |
| ·在片测试系统的体系结构 | 第39页 |
| ·硬件平台的建立 | 第39-40页 |
| ·软件系统的编制 | 第40-47页 |
| ·VISA 介绍 | 第41页 |
| ·仪器驱动程序 | 第41-43页 |
| ·控制与测量程序的编制 | 第43-46页 |
| ·数据处理及显示 | 第46-47页 |
| ·实验流程 | 第47-49页 |
| 第五章 TRL 校准件的制作和实验结果分析 | 第49-60页 |
| ·延迟线长度的选取原则 | 第49-54页 |
| ·短线的选取 | 第49-50页 |
| ·长线的选取 | 第50-51页 |
| ·两条延迟线并用 | 第51-54页 |
| ·实验结果分析 | 第54-60页 |
| 第六章 结束语 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
