数字集成电路测试仪测试通道电路设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·集成电路测试的历史及发展趋势 | 第9-12页 |
| ·集成电路测试发展的历史 | 第9-11页 |
| ·集成电路测试发展的趋势 | 第11页 |
| ·我国集成电路测试的发展 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试仪的研制意义 | 第12-13页 |
| ·项目来源及研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 数字集成电路测试的原理 | 第15-25页 |
| ·基本概念 | 第15-16页 |
| ·数字集成电路测试的种类 | 第16页 |
| ·直流测试 | 第16-18页 |
| ·交流参数测试 | 第18页 |
| ·功能测试原理 | 第18-24页 |
| ·测试向量 | 第20页 |
| ·测试资源的消耗值 | 第20-24页 |
| ·测试流程 | 第24-25页 |
| 第三章 功能测试通道硬件设计 | 第25-36页 |
| ·数字集成电路测试仪结构 | 第25-26页 |
| ·功能测试通道电路总体框架及设计指标 | 第26-28页 |
| ·功能测试通道电路结构 | 第26-28页 |
| ·功能测试通道硬件设计指标 | 第28页 |
| ·系统总线控制单元 | 第28页 |
| ·存储器SRAM 单元 | 第28-31页 |
| ·管脚电路单元（Pin Unit） | 第31-33页 |
| ·程控电压源单元 | 第33-36页 |
| 第四章 功能测试的可编程逻辑设计 | 第36-51页 |
| ·开发流程 | 第36-37页 |
| ·功能测试单元的逻辑设计总体框架 | 第37-38页 |
| ·功能测试逻辑 | 第38-51页 |
| ·设计中与硬件相关的几个问题 | 第39-40页 |
| ·管脚芯片控制逻辑 | 第40-43页 |
| ·时序设定逻辑 | 第40-42页 |
| ·格式化编码逻辑 | 第42-43页 |
| ·输出采集和比较逻辑 | 第43页 |
| ·数模转换器控制逻辑 | 第43-45页 |
| ·存储器的控制逻辑 | 第45-51页 |
| ·测试矢量译码逻辑 | 第45-47页 |
| ·下载测试矢量逻辑 | 第47-48页 |
| ·读测试矢量 | 第48页 |
| ·写测试结果 | 第48-49页 |
| ·测试结果的读取 | 第49-51页 |
| 第五章 直流参数测试通道设计 | 第51-62页 |
| ·直流参数测试通道电路总体框架 | 第51-53页 |
| ·直流参数测试通道电路系统 | 第52页 |
| ·精密测量单元原理 | 第52-53页 |
| ·直流参数测试通道电路设计指标 | 第53页 |
| ·AD5522 功能 | 第53-56页 |
| ·激励设置 | 第54-55页 |
| ·测量功能 | 第55页 |
| ·输出比较功能 | 第55-56页 |
| ·输出箝位功能 | 第56页 |
| ·模数转换器电路 | 第56-57页 |
| ·直流参数测试逻辑 | 第57-62页 |
| ·精密测量单元逻辑 | 第58-59页 |
| ·模数转换器逻辑 | 第59-62页 |
| 第六章 测试通道电路的实际应用 | 第62-72页 |
| ·测试板介绍 | 第62-63页 |
| ·测试芯片概述 | 第63-64页 |
| ·测试仪的设置 | 第64-71页 |
| ·开短路测试 | 第64-65页 |
| ·功能测试 | 第65-67页 |
| ·IIL 测试 | 第67-68页 |
| ·IIH 测试 | 第68-69页 |
| ·VOL 测试 | 第69页 |
| ·VOH 测试 | 第69-70页 |
| ·IDD 测试 | 第70-71页 |
| ·结果分析 | 第71-72页 |
| 第七章 总结 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第77-78页 |
