基于扫描链阻塞技术的时延测试低费用方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-20页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-17页 |
| ·测试技术 | 第13-15页 |
| ·低功耗技术 | 第15页 |
| ·低费用技术 | 第15-17页 |
| ·本文主要研究工作与组织结构 | 第17-20页 |
| 第2章 集成电路测试 | 第20-34页 |
| ·集成电路测试原理 | 第20-21页 |
| ·故障和故障模型 | 第21-24页 |
| ·固定故障 | 第21-22页 |
| ·时延故障模型 | 第22-23页 |
| ·开路故障和短路故障模型 | 第23-24页 |
| ·测试生成 | 第24页 |
| ·扫描设计 | 第24-28页 |
| ·扫描结构 | 第24-26页 |
| ·扫描链 | 第26-27页 |
| ·多扫描链 | 第27-28页 |
| ·时延测试方法 | 第28-33页 |
| ·时延测试时序 | 第28-29页 |
| ·慢时钟组合测试 | 第29-30页 |
| ·增强扫描测试 | 第30-31页 |
| ·正常扫描时序测试 | 第31-32页 |
| ·可变时钟非扫描时序测试 | 第32页 |
| ·额定时钟非扫描时序测试 | 第32-33页 |
| ·故障模拟 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第3章 轮流捕获时延测试方法 | 第34-47页 |
| ·轮流捕获时延测试的结构 | 第34-35页 |
| ·阻塞技术分析 | 第35-37页 |
| ·测试时序 | 第37-38页 |
| ·故障传递分析 | 第38-39页 |
| ·测试生成流程图 | 第39-41页 |
| ·测试实例 | 第41-46页 |
| ·读入网表文件 | 第41-42页 |
| ·测试综合 | 第42页 |
| ·执行设计规则检查 | 第42-43页 |
| ·ATPG 准备 | 第43-44页 |
| ·运行ATPG | 第44-45页 |
| ·保存数据 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第4章 实验结果及分析 | 第47-52页 |
| ·轮流捕获方法时钟控制单元 | 第47页 |
| ·实验结果及分析 | 第47-51页 |
| ·第一阶段实验 | 第47-49页 |
| ·第二阶段实验 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第59页 |
