多路数模混合马达驱动芯片测试技术开发及实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| ·马达驱动芯片工作原理和应用 | 第6-8页 |
| ·集成电路测试重要性 | 第8-9页 |
| ·Multi site并行测试的背景意义 | 第9-10页 |
| ·论文的主要工作 | 第10-11页 |
| ·各章节安排 | 第11-12页 |
| 第二章 多路马达驱动芯片和自动测试系统 | 第12-32页 |
| ·多通道马达驱动芯片AT5566 | 第12-17页 |
| ·AT5566芯片特点和管脚定义 | 第12页 |
| ·AT5566方框图 | 第12-13页 |
| ·TA5566管脚定义 | 第13-15页 |
| ·AT5566典型应用 | 第15-17页 |
| ·半导体测试 | 第17-31页 |
| ·半导体测试机原理 | 第17-25页 |
| ·自动测试设备(ATE)AST2000 | 第25-28页 |
| ·主要板卡介绍 | 第28-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 测试电路设计和自动测试程序开发 | 第32-48页 |
| ·测试电路设计 | 第32-36页 |
| ·AT5566芯片测试规范 | 第32-33页 |
| ·测试流程规划 | 第33-34页 |
| ·测试电路设计 | 第34-36页 |
| ·PCB版图设计 | 第36-38页 |
| ·PCB板卡的结构设计定义 | 第36页 |
| ·PCB版图布线 | 第36-37页 |
| ·测试电路PCB板 | 第37-38页 |
| ·测试程序开发 | 第38-47页 |
| ·测试程序流程图 | 第38-39页 |
| ·主要测试程序 | 第39-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第四章 GRR测试和分析 | 第48-58页 |
| ·GRR检测介绍 | 第48页 |
| ·ANOVA分析方法 | 第48-52页 |
| ·ANOVA数据分析结果 | 第49-50页 |
| ·ANOVA图表 | 第50-52页 |
| ·GRR测量结果和分析 | 第52-57页 |
| ·IVM GRR测量结果与分析 | 第52-55页 |
| ·CH1_Ron GRR测量结果与分析 | 第55-57页 |
| ·CH1_Ron不良数据分析 | 第57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 结论与总结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
