基于主动红外和超声扫描的倒装芯片缺陷检测研究

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
1 课题来源与背景	第8-17页
·课题来源	第8页
·课题背景	第8-9页
·国内外研究概况	第9-15页
·论文的研究内容	第15-17页
2 倒装芯片主动红外缺陷检测理论研究	第17-29页
·红外无损检测基本定律和理论	第17-19页
·主动红外检测技术	第19-21页
·基于主动红外倒装芯片无损检测方法介绍	第21-24页
·倒装芯片主动红外缺陷检测仿真研究	第24-28页
·本章小结	第28-29页
3 倒装芯片主动红外缺陷检测实验研究	第29-40页
·实验对象	第29-30页
·检测系统	第30-33页
·主动红外倒装芯片检测试验	第33-36页
·主动红外脉冲相位无损检测试验	第36-39页
·本章小结	第39-40页
4 倒装芯片超声扫描缺陷检测研究	第40-57页
·基于神经网络的倒装芯片超声图像识别技术	第40-41页
·扫描声学显微镜检测理论及图像采集	第41-42页
·超声扫描检测图像分割技术	第42-44页
·缺陷特征提取技术	第44-47页
·扫描超声检测图像神经网络识别技术	第47-55页
·本章小结	第55-57页
5 全文总结	第57-59页
致谢	第59-60页
参考文献	第60-64页
附录 1 攻读硕士学位期间发表的论文	第64页