数字IC测试仪的研究与设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·研究意义 | 第9-10页 |
| ·国外研究进展 | 第10-11页 |
| ·国内研究现状 | 第11-12页 |
| ·本论文研究内容与所做的工作 | 第12-14页 |
| 2 数字IC测试技术基本理论 | 第14-24页 |
| ·数字电路测试的相关概念 | 第14-15页 |
| ·电路测试的一般模型 | 第14页 |
| ·IC电路测试的分类 | 第14-15页 |
| ·数字IC的测试内容 | 第15-17页 |
| ·逻辑功能测试 | 第15-16页 |
| ·直流参数测试 | 第16页 |
| ·交流参数测试 | 第16-17页 |
| ·数字电路测试基本原理 | 第17页 |
| ·数字IC的测试方法与测试模式 | 第17-18页 |
| ·数字IC的测试方法 | 第17-18页 |
| ·数字IC的测试模式 | 第18页 |
| ·数字IC的电压与电流测试 | 第18-20页 |
| ·电压测试 | 第18-19页 |
| ·电流测试 | 第19-20页 |
| ·数字IC测试系统的总体设计 | 第20-21页 |
| ·设计概述 | 第20页 |
| ·测试系统的设计流程 | 第20-21页 |
| ·测试系统的抗干扰措施 | 第21-23页 |
| ·EDA技术简介 | 第23-24页 |
| 3 数字IC测试仪硬件系统的设计 | 第24-47页 |
| ·测试仪电源系统电路的设计 | 第25-29页 |
| ·单片机 | 第29-33页 |
| ·单片机系统的键盘与显示接口 | 第33-42页 |
| ·单片机与计算机通信 | 第42-45页 |
| ·测试芯片接口 | 第45-47页 |
| 4 数字IC测试仪软件系统的设计 | 第47-55页 |
| ·系统软件概述 | 第47-48页 |
| ·测试品种编程能力和方式 | 第47页 |
| ·测试管理软件的独立性和功能 | 第47页 |
| ·软件系统操作的方便性和容错能力 | 第47页 |
| ·软件系统的可扩充性和升级换代能力 | 第47-48页 |
| ·测试系统软件设计流程 | 第48-49页 |
| ·单片机与PC机间的通信 | 第49-51页 |
| ·数字IC测试数据库 | 第51-52页 |
| ·测试模块的软件设计 | 第52-53页 |
| ·测试向量的编制 | 第53-55页 |
| 5 数字IC测试仪的实现与实验 | 第55-58页 |
| ·PROTEL99SE的介绍与PCB板的设计 | 第55-56页 |
| ·系统调试 | 第56-58页 |
| ·调试系统的介绍 | 第56页 |
| ·调试结果 | 第56-58页 |
| 6 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·总结 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-62页 |
