边界扫描测试建模关键技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-12页 |
| ·电子系统测试技术研究现状 | 第12-14页 |
| ·逻辑簇测试技术研究现状 | 第12-13页 |
| ·互连测试技术研究现状 | 第13-14页 |
| ·边界扫描测试软件研究现状及分析 | 第14-15页 |
| ·本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 边界扫描测试及关键技术分析 | 第16-28页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·边界扫描测试的基本模型 | 第16-18页 |
| ·边界扫描标准的运行机制 | 第18-22页 |
| ·边界扫描标准结构 | 第18-19页 |
| ·边界扫描TAP 控制器 | 第19-21页 |
| ·边界扫描结构中的寄存器 | 第21-22页 |
| ·测试相关专用术语 | 第22-23页 |
| ·边界扫描测试关键技术 | 第23-27页 |
| ·边界扫描测试流程的建立 | 第23-24页 |
| ·存储器测试关键技术 | 第24-26页 |
| ·互连测试关键技术 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 存储器测试建模 | 第28-45页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·逻辑簇测试基本模型 | 第28-29页 |
| ·存储器类型 | 第29-31页 |
| ·存储器信息模型 | 第31-35页 |
| ·功能结构 | 第31-32页 |
| ·存储单元 | 第32-33页 |
| ·存储器信息模型的建立 | 第33-35页 |
| ·存储器故障模型 | 第35-40页 |
| ·单故障模型 | 第35-40页 |
| ·存储器测试算法模型 | 第40-43页 |
| ·固定故障扫描算法 | 第41页 |
| ·棋盘格算法 | 第41页 |
| ·跨步算法 | 第41页 |
| ·走步算法 | 第41-42页 |
| ·March 算法 | 第42-43页 |
| ·存储器算法模型的建立 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 互连测试建模 | 第45-55页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·互连测试结构模型 | 第45-46页 |
| ·互连测试故障模型 | 第46-47页 |
| ·互连测试经典算法分析 | 第47-52页 |
| ·互连测试经典算法介绍 | 第48-50页 |
| ·测试算法性能优化及分析 | 第50-52页 |
| ·互连测试优化算法及模型建立 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 边界扫描测试软件设计及实验结果 | 第55-74页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·边界扫描测试软件总体方案 | 第55-57页 |
| ·软件需求分析 | 第55页 |
| ·软件件总体规划 | 第55-57页 |
| ·存储器测试模块设计 | 第57-63页 |
| ·存储器测试软件开发 | 第57-58页 |
| ·信息预处理 | 第58-59页 |
| ·管脚映射 | 第59-61页 |
| ·核心序列机制 | 第61-62页 |
| ·存储器测试函数调用流程 | 第62-63页 |
| ·互连测试模块设计 | 第63-67页 |
| ·信息预处理 | 第63-64页 |
| ·核心序列机制 | 第64页 |
| ·故障诊断 | 第64-67页 |
| ·互连测试函数调用流程 | 第67页 |
| ·功能实现及结果 | 第67-74页 |
| ·存储器测试过程及软件运行结果 | 第67-71页 |
| ·互连测试过程及软件运行结果 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
