集成电路测试仪通信驱动与中间层软件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-13页 |
| ·集成电路测试系统概述 | 第8页 |
| ·集成电路测试系统发展概况 | 第8-10页 |
| ·集成电路测试系统软件平台现状 | 第10-11页 |
| ·课题研究意义 | 第11页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第11-13页 |
| 第二章 集成电路测试仪软件平台设计 | 第13-29页 |
| ·集成电路测试仪硬件体系 | 第13-15页 |
| ·集成电路测试仪软件体系 | 第15-28页 |
| ·上位机软件设计 | 第15-21页 |
| ·上层应用软件开发环境选择 | 第15-16页 |
| ·上位机软件层次结构 | 第16-17页 |
| ·上位机软件功能结构 | 第17-21页 |
| ·下位机软件设计 | 第21-25页 |
| ·下位机arm 程序编译方法 | 第21-22页 |
| ·下位机软件功能结构 | 第22-23页 |
| ·下位机软件层次结构 | 第23-25页 |
| ·上下位机USB 通信系统设计 | 第25-28页 |
| ·下位机USB 通信系统设计 | 第26-28页 |
| ·上位机USB 通信系统设计 | 第28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 仪器通信层设计 | 第29-55页 |
| ·基于WDM 模型的USB 驱动设计 | 第29-51页 |
| ·WDM 驱动模型 | 第29-35页 |
| ·即插即用的实现 | 第35-37页 |
| ·USB 数据读写 | 第37-42页 |
| ·测试仪USB 通信API 函数设计 | 第42-50页 |
| ·打开USB 设备 | 第42-46页 |
| ·测试仪USB 发送API | 第46-49页 |
| ·测试仪USB 通信接收API | 第49-50页 |
| ·测试仪USB 通信API 封装 | 第50-51页 |
| ·HP 万用表通信函数设计 | 第51-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第四章 面向用户编程的底层实现 | 第55-60页 |
| ·施加点的确定 | 第57页 |
| ·自动选择电压电流量程 | 第57-59页 |
| ·其他参数确定 | 第59页 |
| ·功能封装 | 第59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第五章 测试与调试总结 | 第60-66页 |
| ·测试MC4558 | 第60-64页 |
| ·软件调试中遇到的问题 | 第64-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结 | 第66-67页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第70-71页 |
