寄存器文件的可测性设计与实现
| 目录 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 英文缩写说明 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·集成电路测试的概念 | 第8-10页 |
| ·集成电路测试面临的问题 | 第10-12页 |
| ·可测性设计的研究意义和发展历史 | 第12-14页 |
| ·主要研究内容和工作安排 | 第14-15页 |
| 第二章 可测性设计方法概述 | 第15-29页 |
| ·可测性设计方法 | 第15-25页 |
| ·特定的可测性设计方法 | 第15页 |
| ·扫描设计方法 | 第15-17页 |
| ·边界扫描法 | 第17-18页 |
| ·内建自测试设计方法 | 第18-25页 |
| ·存储器测试 | 第25-28页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第25-26页 |
| ·存储器内建自测试 | 第26-27页 |
| ·宏测试 | 第27-28页 |
| ·存储器测试方法综合比较 | 第28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 寄存器文件的可测性设计 | 第29-46页 |
| ·寄存器文件简介 | 第29-30页 |
| ·寄存器文件架构 | 第30-31页 |
| ·寄存器文件的可测性设计方案 | 第31-32页 |
| ·测试流程分析 | 第32-34页 |
| ·数字ASIC设计流程 | 第34-36页 |
| ·可测性设计的RTL级实现 | 第36-41页 |
| ·芯片结构 | 第37-38页 |
| ·控制模块的设计 | 第38-40页 |
| ·数据和地址暂存模块的设计 | 第40-41页 |
| ·功能仿真 | 第41-42页 |
| ·数模混合仿真 | 第42-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第四章 可测性设计的物理实现 | 第46-55页 |
| ·RTL代码综合 | 第46-48页 |
| ·布局布线 | 第48-49页 |
| ·放置标准单元 | 第49-50页 |
| ·时钟树综合 | 第50-51页 |
| ·DFM | 第51-52页 |
| ·芯片版图和后仿结果 | 第52-54页 |
| ·测试电路时序分析 | 第52-53页 |
| ·后仿结果 | 第53-54页 |
| ·芯片版图实现 | 第54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第五章 PCB板设计 | 第55-59页 |
| ·芯片封装和版图设计 | 第55-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
