首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--测试和检验论文

面向退化效应的组合电路测试通路选择算法研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-18页
    1.1 研究背景及意义第8-10页
    1.2 基本概念第10-14页
        1.2.1 集成电路的退化效应第10-12页
        1.2.2 组合电路时延与时延测试第12-13页
        1.2.3 测试通路选择第13-14页
    1.3 研究现状第14-16页
        1.3.1 NBTI效应的研究现状第14页
        1.3.2 时延故障及测试方法的研究现状第14-15页
        1.3.3 时延测试通路和关键点选择的研究现状第15-16页
    1.4 本文主要研究内容及组织结构第16-18页
第2章 电路时延及退化时延模型建立第18-30页
    2.1 电路时延及固有时延第18-20页
        2.1.1 电路时延故障模型第18页
        2.1.2 固有时延的产生第18-20页
    2.2 面向退化效应的时延模型建立第20-28页
        2.2.1 典型退化效应分析第20-22页
        2.2.2 退化效应与时延关系第22-23页
        2.2.3 门电路的退化时延模型建立第23-24页
        2.2.4 门电路的退化时延模型仿真与分析第24-28页
    2.3 组合电路的时延通路第28-29页
    2.4 本章小结第29-30页
第3章 基于贪婪算法的关键测试通路选择算法第30-44页
    3.1 组合电路测试通路选择问题的数学模型第30-34页
        3.1.1 电路拓扑化与信息存储第30-31页
        3.1.2 针对退化时延测试通路问题的拓扑应用第31-34页
    3.2 基于贪婪算法的关键测试通路选择算法第34-36页
    3.3 实验结果与分析第36-43页
        3.3.1 贪婪算法的通路搜寻结果分析第36-42页
        3.3.2 电路复杂程度对搜索效率的影响分析第42-43页
    3.4 本章小结第43-44页
第4章 基于智能优化的关键测试通路选择算法第44-58页
    4.1 基于蚁群算法的通路选择算法优化第44-49页
        4.1.1 蚁群算法的基本原理第44-46页
        4.1.2 蚁群算法在时延关键通路优化算法中的应用第46-47页
        4.1.3 蚁群算法的描述与实现第47-49页
    4.2 基于关键节点筛选的通路选择算法优化第49-51页
        4.2.1 关键节点的定义第49-50页
        4.2.2 关键节点的选择第50-51页
    4.3 实验结果与分析第51-57页
        4.3.1 蚁群算法的关键通路搜寻结果第51-54页
        4.3.2 参数设定对蚁群算法通路搜寻结果的分析第54-56页
        4.3.3 蚁群优化算法与深度遍历算法的对比分析第56-57页
    4.4 本章小结第57-58页
结论第58-60页
参考文献第60-65页
攻读学位期间发表的学术论文第65-67页
致谢第67页

论文共67页,点击 下载论文
上一篇:基于SLWE的自适应熵编码器概率估计模型应用研究
下一篇:基于二氧化碲晶体的窄带声光滤波技术研究