| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-10页 |
| 1.2 基本概念 | 第10-14页 |
| 1.2.1 集成电路的退化效应 | 第10-12页 |
| 1.2.2 组合电路时延与时延测试 | 第12-13页 |
| 1.2.3 测试通路选择 | 第13-14页 |
| 1.3 研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3.1 NBTI效应的研究现状 | 第14页 |
| 1.3.2 时延故障及测试方法的研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.3 时延测试通路和关键点选择的研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 本文主要研究内容及组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 电路时延及退化时延模型建立 | 第18-30页 |
| 2.1 电路时延及固有时延 | 第18-20页 |
| 2.1.1 电路时延故障模型 | 第18页 |
| 2.1.2 固有时延的产生 | 第18-20页 |
| 2.2 面向退化效应的时延模型建立 | 第20-28页 |
| 2.2.1 典型退化效应分析 | 第20-22页 |
| 2.2.2 退化效应与时延关系 | 第22-23页 |
| 2.2.3 门电路的退化时延模型建立 | 第23-24页 |
| 2.2.4 门电路的退化时延模型仿真与分析 | 第24-28页 |
| 2.3 组合电路的时延通路 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 基于贪婪算法的关键测试通路选择算法 | 第30-44页 |
| 3.1 组合电路测试通路选择问题的数学模型 | 第30-34页 |
| 3.1.1 电路拓扑化与信息存储 | 第30-31页 |
| 3.1.2 针对退化时延测试通路问题的拓扑应用 | 第31-34页 |
| 3.2 基于贪婪算法的关键测试通路选择算法 | 第34-36页 |
| 3.3 实验结果与分析 | 第36-43页 |
| 3.3.1 贪婪算法的通路搜寻结果分析 | 第36-42页 |
| 3.3.2 电路复杂程度对搜索效率的影响分析 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 基于智能优化的关键测试通路选择算法 | 第44-58页 |
| 4.1 基于蚁群算法的通路选择算法优化 | 第44-49页 |
| 4.1.1 蚁群算法的基本原理 | 第44-46页 |
| 4.1.2 蚁群算法在时延关键通路优化算法中的应用 | 第46-47页 |
| 4.1.3 蚁群算法的描述与实现 | 第47-49页 |
| 4.2 基于关键节点筛选的通路选择算法优化 | 第49-51页 |
| 4.2.1 关键节点的定义 | 第49-50页 |
| 4.2.2 关键节点的选择 | 第50-51页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第51-57页 |
| 4.3.1 蚁群算法的关键通路搜寻结果 | 第51-54页 |
| 4.3.2 参数设定对蚁群算法通路搜寻结果的分析 | 第54-56页 |
| 4.3.3 蚁群优化算法与深度遍历算法的对比分析 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |