基于FDR编码的数字电路测试压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 集成电路测试面临的挑战 | 第13-14页 |
| 1.3 测试数据压缩的国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第16-17页 |
| 1.5 本文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 集成电路测试理论 | 第18-32页 |
| 2.1 测试的意义 | 第18页 |
| 2.2 测试的原理 | 第18页 |
| 2.3 故障模型 | 第18-20页 |
| 2.3.1 固定故障 | 第19页 |
| 2.3.2 桥接故障 | 第19页 |
| 2.3.3 延时故障 | 第19-20页 |
| 2.4 DFT设计 | 第20-21页 |
| 2.6 测试产生 | 第21-22页 |
| 2.7 测试压缩 | 第22-31页 |
| 2.7.1 基于编码的测试压缩方法 | 第23-27页 |
| 2.7.2 广播式扫描压缩方法 | 第27-30页 |
| 2.7.3 基于线性解压结构的压缩方法 | 第30-31页 |
| 2.8 小结 | 第31-32页 |
| 第3章 一种基于FDR的高测试质量测试压缩方法 | 第32-39页 |
| 3.1 测试压缩方案和解压结构 | 第32-34页 |
| 3.2 测试向量/响应重排序方法 | 第34-37页 |
| 3.3 实验结果 | 第37-38页 |
| 3.4 小结 | 第38-39页 |
| 第4章 基于扫描树技术与FDR的测试压缩方法 | 第39-48页 |
| 4.1 扫描树技术与FDR编码结合 | 第39-40页 |
| 4.2 提出的测试压缩方法及解压结构 | 第40-41页 |
| 4.3 响应子链重组 | 第41-44页 |
| 4.4 测试向量重排序 | 第44-45页 |
| 4.5 实验结果 | 第45-47页 |
| 4.6 小结 | 第47-48页 |
| 结论 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第55页 |
