首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--测试和检验论文

变换编码在测试压缩中的应用研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第11-19页
    1.1 研究背景及意义第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-17页
        1.2.1 基于线性解压结构第12-14页
        1.2.2 基于广播的压缩第14-16页
        1.2.3 可测性设计第16-17页
    1.3 集成电路测试所面临的挑战第17-18页
    1.4 本文主要研究内容第18页
    1.5 本文组织结构第18-19页
第2章 测试压缩基础理论第19-31页
    2.1 引言第19页
    2.2 集成电路测试基础第19-24页
        2.2.1 测试类型第20-21页
        2.2.2 故障模型第21-22页
        2.2.3 测试产生与故障模拟第22-24页
    2.3 编码压缩方法第24-30页
        2.3.1 游程压缩方法第24-27页
        2.3.2 统计压缩方法第27-29页
        2.3.3 数据块压缩方法第29-30页
    2.4 小结第30-31页
第3章 基于变换编码的测试编码压缩方法第31-43页
    3.1 引言第31页
    3.2 变换编码相关工作第31-32页
    3.3 变换编码第32-34页
        3.3.1 K-L变换第33-34页
        3.3.2 Hadamard变换第34页
    3.4 基于变换编码的测试压缩方案第34-38页
        3.4.1 基本思想第34-36页
        3.4.2 预处理及K-L变换矩阵的离散化第36-38页
        3.4.3 硬件代价分析及Hadamard近似第38页
    3.5 合成第38页
    3.6 定性分析第38-39页
    3.7 实验结果及分析第39-42页
    3.8 小结第42-43页
第4章 基于K-L变换的多分量选取压缩第43-51页
    4.1 引言第43页
    4.2 主分量及主分量分析第43-45页
    4.3 K-L多分量选取方案第45-49页
        4.3.1 多分量加权选取第45-47页
        4.3.2 多分量硬件合成第47-49页
    4.4 实验结果与分析第49-50页
    4.5 小结第50-51页
结论第51-53页
参考文献第53-59页
附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文第59-60页
致谢第60页

论文共60页,点击 下载论文
上一篇:抗辐射FPGA布局布线算法研究
下一篇:基于CMOS工艺的新型高性能第二代电流控制电流传输器