变换编码在测试压缩中的应用研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 基于线性解压结构 | 第12-14页 |
| 1.2.2 基于广播的压缩 | 第14-16页 |
| 1.2.3 可测性设计 | 第16-17页 |
| 1.3 集成电路测试所面临的挑战 | 第17-18页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第18页 |
| 1.5 本文组织结构 | 第18-19页 |
| 第2章 测试压缩基础理论 | 第19-31页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 集成电路测试基础 | 第19-24页 |
| 2.2.1 测试类型 | 第20-21页 |
| 2.2.2 故障模型 | 第21-22页 |
| 2.2.3 测试产生与故障模拟 | 第22-24页 |
| 2.3 编码压缩方法 | 第24-30页 |
| 2.3.1 游程压缩方法 | 第24-27页 |
| 2.3.2 统计压缩方法 | 第27-29页 |
| 2.3.3 数据块压缩方法 | 第29-30页 |
| 2.4 小结 | 第30-31页 |
| 第3章 基于变换编码的测试编码压缩方法 | 第31-43页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 变换编码相关工作 | 第31-32页 |
| 3.3 变换编码 | 第32-34页 |
| 3.3.1 K-L变换 | 第33-34页 |
| 3.3.2 Hadamard变换 | 第34页 |
| 3.4 基于变换编码的测试压缩方案 | 第34-38页 |
| 3.4.1 基本思想 | 第34-36页 |
| 3.4.2 预处理及K-L变换矩阵的离散化 | 第36-38页 |
| 3.4.3 硬件代价分析及Hadamard近似 | 第38页 |
| 3.5 合成 | 第38页 |
| 3.6 定性分析 | 第38-39页 |
| 3.7 实验结果及分析 | 第39-42页 |
| 3.8 小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于K-L变换的多分量选取压缩 | 第43-51页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 主分量及主分量分析 | 第43-45页 |
| 4.3 K-L多分量选取方案 | 第45-49页 |
| 4.3.1 多分量加权选取 | 第45-47页 |
| 4.3.2 多分量硬件合成 | 第47-49页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第49-50页 |
| 4.5 小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-59页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
