| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 论文的主要工作 | 第10-11页 |
| 1.4 论文的结构 | 第11-13页 |
| 第二章 低电压SRAM设计与测试概述 | 第13-31页 |
| 2.1 低电压SRAM概述 | 第13-16页 |
| 2.1.1 低电压6TSRAM | 第14-15页 |
| 2.1.2 新型低电压8TSRAM | 第15页 |
| 2.1.3 超低电压多阈值9TSRAM | 第15-16页 |
| 2.2 低电压SRAM故障模型 | 第16-20页 |
| 2.2.1 低电压SRAM单元故障 | 第17-19页 |
| 2.2.2 地址译码器故障 | 第19页 |
| 2.2.3 读写干扰故障 | 第19-20页 |
| 2.3 低电压SRAMDFT测试技术 | 第20-24页 |
| 2.4 低电压SRAM内建自测试技术 | 第24-30页 |
| 2.4.1 SRAMMarch算法 | 第24-27页 |
| 2.4.2 SRAM内建自测试电路 | 第27-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 面向稳定性故障DFT电路设计 | 第31-40页 |
| 3.1 稳定性故障的产生原因 | 第31-34页 |
| 3.1.1 低电压SRAM单元中的静态噪声容限 | 第31-32页 |
| 3.1.2 静态噪声容限与稳定性故障的关系 | 第32-33页 |
| 3.1.3 制造缺陷引起稳定性故障 | 第33-34页 |
| 3.2 稳定性故障的注入 | 第34-35页 |
| 3.3 DFT电路设计 | 第35-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 基于March-Like算法BIST电路设计 | 第40-53页 |
| 4.1 March C+算法 | 第40-41页 |
| 4.2 March-Like算法推导 | 第41-47页 |
| 4.2.1 低电压SRAM故障检测算法推导 | 第41-44页 |
| 4.2.2 March-Like算法设计 | 第44-47页 |
| 4.3 基于March-Like算法的内建自测试电路设计 | 第47-51页 |
| 4.3.1 MBIST电路结构 | 第47页 |
| 4.3.2 内建自测试电路关键模块设计 | 第47-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 低电压SRAM测试电路实现与分析 | 第53-66页 |
| 5.1 测试平台与对象 | 第53-56页 |
| 5.1.1 EDA工具 | 第53-54页 |
| 5.1.2 MBIST测试流程 | 第54页 |
| 5.1.3 低电压SRAM电路实现 | 第54-56页 |
| 5.2 实验结果与分析 | 第56-65页 |
| 5.2.1 面向稳定性故障DFT电路仿真与分析 | 第56-58页 |
| 5.2.2 基于March-Like算法BIST电路仿真与分析 | 第58-65页 |
| 5.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 总结 | 第66-67页 |
| 6.2 展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 附录 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
