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锁相环电路的可测性设计研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-19页
    1.1 论文研究背景和意义第10-12页
    1.2 国内外研究现状第12-14页
    1.3 论文主要工作和创新点第14-17页
    1.4 论文的结构第17-19页
第二章 锁相环可测性概述第19-36页
    2.1 锁相环的结构设计和性能指标第19-27页
    2.2 锁相环的可测性综述与分析第27-32页
    2.3 锁相环可测性方法总结第32-35页
    2.4 本章小结第35-36页
第三章 兼顾结构测试和性能评估的锁相环可测性研究第36-60页
    3.1 锁相环可测性系统研究与设计第36-39页
    3.2 待测锁相环的研究与设计第39-51页
    3.3 锁相环可测性设计结构中故障对抖动影响的研究分析第51-59页
    3.4 本章小结第59-60页
第四章 锁相环DFT结构中故障测试技术的研究与设计第60-90页
    4.1 锁相环故障测试原理第60-65页
    4.2 锁相环片上故障测试技术研究第65-72页
    4.3 锁相环故障测试结构设计与验证第72-89页
    4.4 本章小结第89-90页
第五章 锁相环DFT结构中抖动测量技术的研究与设计第90-110页
    5.1 锁相环抖动测量原理第90-93页
    5.2 锁相环片上抖动测量技术研究第93-100页
    5.3 锁相环抖动测量方案分析第100-102页
    5.4 锁相环抖动测量结构设计与验证第102-109页
    5.5 本章小结第109-110页
第六章 锁相环DFT电路的验证与结果分析第110-118页
    6.1 锁相环DFT电路设计第110-114页
    6.2 锁相环DFT电路验证和分析第114-117页
    6.3 本章小结第117-118页
第七章 总结和展望第118-121页
    7.1 论文总结第118-119页
    7.2 展望第119-121页
致谢第121-122页
参考文献第122-130页
博士阶段获得的研究成果第130页

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