| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 论文研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要工作和创新点 | 第14-17页 |
| 1.4 论文的结构 | 第17-19页 |
| 第二章 锁相环可测性概述 | 第19-36页 |
| 2.1 锁相环的结构设计和性能指标 | 第19-27页 |
| 2.2 锁相环的可测性综述与分析 | 第27-32页 |
| 2.3 锁相环可测性方法总结 | 第32-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 兼顾结构测试和性能评估的锁相环可测性研究 | 第36-60页 |
| 3.1 锁相环可测性系统研究与设计 | 第36-39页 |
| 3.2 待测锁相环的研究与设计 | 第39-51页 |
| 3.3 锁相环可测性设计结构中故障对抖动影响的研究分析 | 第51-59页 |
| 3.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第四章 锁相环DFT结构中故障测试技术的研究与设计 | 第60-90页 |
| 4.1 锁相环故障测试原理 | 第60-65页 |
| 4.2 锁相环片上故障测试技术研究 | 第65-72页 |
| 4.3 锁相环故障测试结构设计与验证 | 第72-89页 |
| 4.4 本章小结 | 第89-90页 |
| 第五章 锁相环DFT结构中抖动测量技术的研究与设计 | 第90-110页 |
| 5.1 锁相环抖动测量原理 | 第90-93页 |
| 5.2 锁相环片上抖动测量技术研究 | 第93-100页 |
| 5.3 锁相环抖动测量方案分析 | 第100-102页 |
| 5.4 锁相环抖动测量结构设计与验证 | 第102-109页 |
| 5.5 本章小结 | 第109-110页 |
| 第六章 锁相环DFT电路的验证与结果分析 | 第110-118页 |
| 6.1 锁相环DFT电路设计 | 第110-114页 |
| 6.2 锁相环DFT电路验证和分析 | 第114-117页 |
| 6.3 本章小结 | 第117-118页 |
| 第七章 总结和展望 | 第118-121页 |
| 7.1 论文总结 | 第118-119页 |
| 7.2 展望 | 第119-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-130页 |
| 博士阶段获得的研究成果 | 第130页 |
