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DC-DC Buck芯片ATE测试中的Trim技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第12-16页
    1.1 开关电源概况第12-13页
    1.2 集成电路测试简述第13-15页
    1.3 论文的主要内容与章节安排第15-16页
第二章 DC-DC BUCK原理与芯片简介第16-29页
    2.1 DC-DC Buck工作原理第16-21页
        2.1.1 连续导通(CCM)模式第17-19页
        2.1.2 不连续导通(DCM)模式第19-20页
        2.1.3 临界工作状态第20-21页
    2.2 开关电源的控制方式第21-24页
        2.2.1 脉冲宽度调制(PWM)方式第21-22页
        2.2.2 脉冲频率调制(PFM)方式第22-23页
        2.2.3 脉冲跨周期调制(PSM)方式第23-24页
    2.3 TPS65261三端同步直流降压转换器概述第24-28页
        2.3.1 TPS65261简要描述第24-27页
        2.3.2 TPS65261 EEPROM Trim Method第27-28页
    2.4 本章小结第28-29页
第三章 DC-DC BUCKTRIM测试及算法改进第29-71页
    3.1 自动测试设备ATE第29-31页
        3.1.1 Analog Pin Unit (APU)第30页
        3.1.2 Digital Pin Unit (DPU)第30-31页
        3.1.3 Quad Measurement System (QMS)第31页
        3.1.4 Master Clock Unit (MCU-16)第31页
    3.2 芯片测试流程第31-34页
        3.2.1 开路/短路测试第32-33页
        3.2.2 IDD测试第33-34页
    3.3 Trim测试简述第34-36页
        3.3.1 熔丝修调第34-35页
        3.3.2 齐纳二极管修调第35页
        3.3.3 内嵌存储单元修调第35-36页
    3.4 Bandgap Voltage Trim第36-48页
        3.4.1 Bandgap原理分析第37-38页
        3.4.2 Process Variations in Bandgap第38-39页
        3.4.3 Bandgap修调设计第39-41页
        3.4.4 Bandgap Trim Target第41-42页
        3.4.5 Bandgap Trim Full Search第42-45页
        3.4.6 Bandgap自动修调第45-48页
    3.5 Bias Current Trim第48-53页
        3.5.1 Bias Current修调设计第48-49页
        3.5.2 Bias Current Trim Full Search第49-52页
        3.5.3 Bias Current自动修调第52-53页
    3.6 Reference Voltage Trim第53-58页
        3.6.1 Reference Voltage Trim修调设计第53-54页
        3.6.2 Reference Voltage Trim Full Search第54-56页
        3.6.3 Reference Voltage自动修调第56-58页
    3.7 Oscillator Trim第58-65页
        3.7.1 Oscillator原理分析第58-59页
        3.7.2 Oscillator修调设计第59-62页
        3.7.3 Oscillator Trim Full Search第62-64页
        3.7.4 Oscillator自动修调第64-65页
    3.8 温度特性分析第65-69页
        3.8.1 温度控制方法第65-67页
        3.8.2 自动修调算法温度特性曲线第67-69页
    3.9 本章小结第69-71页
第四章 结束语第71-73页
    4.1 主要工作与创新点第71-72页
    4.2 后续研究工作第72-73页
参考文献第73-76页
致谢第76-77页
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文第77-79页

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