摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第12-16页 |
1.1 开关电源概况 | 第12-13页 |
1.2 集成电路测试简述 | 第13-15页 |
1.3 论文的主要内容与章节安排 | 第15-16页 |
第二章 DC-DC BUCK原理与芯片简介 | 第16-29页 |
2.1 DC-DC Buck工作原理 | 第16-21页 |
2.1.1 连续导通(CCM)模式 | 第17-19页 |
2.1.2 不连续导通(DCM)模式 | 第19-20页 |
2.1.3 临界工作状态 | 第20-21页 |
2.2 开关电源的控制方式 | 第21-24页 |
2.2.1 脉冲宽度调制(PWM)方式 | 第21-22页 |
2.2.2 脉冲频率调制(PFM)方式 | 第22-23页 |
2.2.3 脉冲跨周期调制(PSM)方式 | 第23-24页 |
2.3 TPS65261三端同步直流降压转换器概述 | 第24-28页 |
2.3.1 TPS65261简要描述 | 第24-27页 |
2.3.2 TPS65261 EEPROM Trim Method | 第27-28页 |
2.4 本章小结 | 第28-29页 |
第三章 DC-DC BUCKTRIM测试及算法改进 | 第29-71页 |
3.1 自动测试设备ATE | 第29-31页 |
3.1.1 Analog Pin Unit (APU) | 第30页 |
3.1.2 Digital Pin Unit (DPU) | 第30-31页 |
3.1.3 Quad Measurement System (QMS) | 第31页 |
3.1.4 Master Clock Unit (MCU-16) | 第31页 |
3.2 芯片测试流程 | 第31-34页 |
3.2.1 开路/短路测试 | 第32-33页 |
3.2.2 IDD测试 | 第33-34页 |
3.3 Trim测试简述 | 第34-36页 |
3.3.1 熔丝修调 | 第34-35页 |
3.3.2 齐纳二极管修调 | 第35页 |
3.3.3 内嵌存储单元修调 | 第35-36页 |
3.4 Bandgap Voltage Trim | 第36-48页 |
3.4.1 Bandgap原理分析 | 第37-38页 |
3.4.2 Process Variations in Bandgap | 第38-39页 |
3.4.3 Bandgap修调设计 | 第39-41页 |
3.4.4 Bandgap Trim Target | 第41-42页 |
3.4.5 Bandgap Trim Full Search | 第42-45页 |
3.4.6 Bandgap自动修调 | 第45-48页 |
3.5 Bias Current Trim | 第48-53页 |
3.5.1 Bias Current修调设计 | 第48-49页 |
3.5.2 Bias Current Trim Full Search | 第49-52页 |
3.5.3 Bias Current自动修调 | 第52-53页 |
3.6 Reference Voltage Trim | 第53-58页 |
3.6.1 Reference Voltage Trim修调设计 | 第53-54页 |
3.6.2 Reference Voltage Trim Full Search | 第54-56页 |
3.6.3 Reference Voltage自动修调 | 第56-58页 |
3.7 Oscillator Trim | 第58-65页 |
3.7.1 Oscillator原理分析 | 第58-59页 |
3.7.2 Oscillator修调设计 | 第59-62页 |
3.7.3 Oscillator Trim Full Search | 第62-64页 |
3.7.4 Oscillator自动修调 | 第64-65页 |
3.8 温度特性分析 | 第65-69页 |
3.8.1 温度控制方法 | 第65-67页 |
3.8.2 自动修调算法温度特性曲线 | 第67-69页 |
3.9 本章小结 | 第69-71页 |
第四章 结束语 | 第71-73页 |
4.1 主要工作与创新点 | 第71-72页 |
4.2 后续研究工作 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第77-79页 |