时延测试向量产生方法的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 通路时延故障测试 | 第12-13页 |
| 1.2.2 跳变时延故障测试 | 第13-14页 |
| 1.2.3 小时延故障测试 | 第14-15页 |
| 1.3 测试面临的挑战 | 第15-16页 |
| 1.4 本文研究的目的及意义 | 第16页 |
| 1.5 本文的主要工作与组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 时延故障测试方法概述 | 第18-34页 |
| 2.1 引言 | 第18-19页 |
| 2.2 测试的基本概念及理论 | 第19-26页 |
| 2.2.1 测试类型 | 第19页 |
| 2.2.2 故障及故障模型 | 第19-23页 |
| 2.2.3 测试产生 | 第23-25页 |
| 2.2.4 故障模拟 | 第25-26页 |
| 2.3 时延测试应用方法 | 第26-30页 |
| 2.3.1 慢速时钟组合测试 | 第26-27页 |
| 2.3.2 增强型扫描测试 | 第27-28页 |
| 2.3.3 正常扫描时序电路测试 | 第28-29页 |
| 2.3.4 可变时钟非扫描时序测试 | 第29-30页 |
| 2.3.5 额定时钟非扫描时序测试 | 第30页 |
| 2.4 时延故障测试评估方法 | 第30-33页 |
| 2.5 小结 | 第33-34页 |
| 第3章 用统计信息提高超速测试的质量 | 第34-43页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 方法概述 | 第35-37页 |
| 3.3 测试产生方案 | 第37-40页 |
| 3.3.1 统计概率应用 | 第37页 |
| 3.3.2 静态定时分析 | 第37-38页 |
| 3.3.3 通路选择算法 | 第38-40页 |
| 3.4 实验结果及分析 | 第40-42页 |
| 3.5 小结 | 第42-43页 |
| 第4章 一种新的跳变时延故障测试方法 | 第43-51页 |
| 4.1 引言 | 第43-44页 |
| 4.2 相关技术 | 第44-46页 |
| 4.3 基于LOS检测的时延测试产生 | 第46-48页 |
| 4.3.1 利用固定型故障测试跳变时延故障 | 第46-47页 |
| 4.3.2 电路结构图设计 | 第47-48页 |
| 4.3.3 统计信息的应用 | 第48页 |
| 4.4 实验结果及分析 | 第48-50页 |
| 4.5 小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
