基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第13-17页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第13-14页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第13页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第14-15页 |
| 1.2.1 边界扫描技术标准的发展 | 第14页 |
| 1.2.2 测试算法研究的发展 | 第14-15页 |
| 1.2.3 边界扫描测试系统及软件的发展 | 第15页 |
| 1.3 课题研究内容与论文架构 | 第15-17页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 论文结构概要 | 第16-17页 |
| 第2章 边界扫描技术的理论研究 | 第17-31页 |
| 2.1 边界扫描测试的基本概述 | 第17-22页 |
| 2.1.1 BST的基本原理 | 第17-19页 |
| 2.1.2 边界扫描测试类型 | 第19-20页 |
| 2.1.3 边界扫描描述语言 | 第20-22页 |
| 2.2 板级互连测试 | 第22-24页 |
| 2.2.1 互联测试的连接结构 | 第22-24页 |
| 2.3 测试生成的数学基础 | 第24-29页 |
| 2.3.1 基本概念的数学描述 | 第24页 |
| 2.3.2 测试故障的数学分析 | 第24-28页 |
| 2.3.3 边界扫描测试的数学模型 | 第28-29页 |
| 2.4 可测试性设计理论 | 第29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-31页 |
| 第3章 边界扫描测试算法的分析与研究 | 第31-49页 |
| 3.1 测试算法优化指标 | 第31-32页 |
| 3.1.1 紧凑性指标分析 | 第31-32页 |
| 3.1.2 完备性指标分析 | 第32页 |
| 3.2 测试矩阵生成策略比较 | 第32-33页 |
| 3.3 现有算法分析研究 | 第33-39页 |
| 3.3.1 现有的单步算法 | 第33-36页 |
| 3.3.2 现有自适应算法 | 第36-39页 |
| 3.4 优化的自适应算法 | 第39-47页 |
| 3.4.1 改进算法的描述 | 第39-46页 |
| 3.4.2 改进算法的性能分析 | 第46-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-49页 |
| 第4章 边界扫描测试设计 | 第49-63页 |
| 4.1 边界扫描测试系统结构 | 第49-50页 |
| 4.2 板级可测试性设计 | 第50-53页 |
| 4.2.1 一般非边界扫描结构器件的设计 | 第50-51页 |
| 4.2.2 可编程器件的设计 | 第51-53页 |
| 4.3 测试系统控制模块设计 | 第53-59页 |
| 4.3.1 边界扫描逻辑模块 | 第53-56页 |
| 4.3.2 模拟网络故障的设计 | 第56-57页 |
| 4.3.3 测试矩阵生成模块 | 第57-59页 |
| 4.4 测试验证结果及分析 | 第59-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 结束语 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
