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基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究

摘要第6-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第13-17页
    1.1 研究背景和意义第13-14页
        1.1.1 研究背景第13页
        1.1.2 研究意义第13-14页
    1.2 国内外研究现状与发展趋势第14-15页
        1.2.1 边界扫描技术标准的发展第14页
        1.2.2 测试算法研究的发展第14-15页
        1.2.3 边界扫描测试系统及软件的发展第15页
    1.3 课题研究内容与论文架构第15-17页
        1.3.1 研究内容第15-16页
        1.3.2 论文结构概要第16-17页
第2章 边界扫描技术的理论研究第17-31页
    2.1 边界扫描测试的基本概述第17-22页
        2.1.1 BST的基本原理第17-19页
        2.1.2 边界扫描测试类型第19-20页
        2.1.3 边界扫描描述语言第20-22页
    2.2 板级互连测试第22-24页
        2.2.1 互联测试的连接结构第22-24页
    2.3 测试生成的数学基础第24-29页
        2.3.1 基本概念的数学描述第24页
        2.3.2 测试故障的数学分析第24-28页
        2.3.3 边界扫描测试的数学模型第28-29页
    2.4 可测试性设计理论第29页
    2.5 本章小结第29-31页
第3章 边界扫描测试算法的分析与研究第31-49页
    3.1 测试算法优化指标第31-32页
        3.1.1 紧凑性指标分析第31-32页
        3.1.2 完备性指标分析第32页
    3.2 测试矩阵生成策略比较第32-33页
    3.3 现有算法分析研究第33-39页
        3.3.1 现有的单步算法第33-36页
        3.3.2 现有自适应算法第36-39页
    3.4 优化的自适应算法第39-47页
        3.4.1 改进算法的描述第39-46页
        3.4.2 改进算法的性能分析第46-47页
    3.5 本章小结第47-49页
第4章 边界扫描测试设计第49-63页
    4.1 边界扫描测试系统结构第49-50页
    4.2 板级可测试性设计第50-53页
        4.2.1 一般非边界扫描结构器件的设计第50-51页
        4.2.2 可编程器件的设计第51-53页
    4.3 测试系统控制模块设计第53-59页
        4.3.1 边界扫描逻辑模块第53-56页
        4.3.2 模拟网络故障的设计第56-57页
        4.3.3 测试矩阵生成模块第57-59页
    4.4 测试验证结果及分析第59-61页
    4.5 本章小结第61-63页
结束语第63-65页
参考文献第65-69页
攻读硕士学位期间发表的学术论文第69-71页
致谢第71页

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