基于向量分解的测试向量压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 集成电路测试 | 第14-18页 |
| 1.2.1 测试过程 | 第14-15页 |
| 1.2.2 故障模型 | 第15-16页 |
| 1.2.3 测试生成 | 第16页 |
| 1.2.4 故障模拟 | 第16-17页 |
| 1.2.5 可测试性设计 | 第17-18页 |
| 1.3 测试面临的挑战 | 第18页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.5 本文的主要工作和组织结构 | 第19-21页 |
| 第2章 测试向量压缩 | 第21-29页 |
| 2.1 测试压缩原理 | 第21-22页 |
| 2.2 基于编码的压缩方法 | 第22-27页 |
| 2.2.1 字典编码 | 第22-23页 |
| 2.2.2 统计编码 | 第23-25页 |
| 2.2.3 游程编码 | 第25-26页 |
| 2.2.4 其他编码 | 第26-27页 |
| 2.3 非编码压缩方法 | 第27-28页 |
| 2.3.1 基于线性解压缩的方法 | 第27页 |
| 2.3.2 基于广播扫描的方法 | 第27-28页 |
| 2.4 小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于向量分解的测试向量压缩方法 | 第29-40页 |
| 3.1 相关工作 | 第29-30页 |
| 3.2 向量分解 | 第30-32页 |
| 3.3 向量排序 | 第32-33页 |
| 3.3.1 数学模型 | 第32页 |
| 3.3.2 算法设计 | 第32-33页 |
| 3.4 主分量选取方法 | 第33-34页 |
| 3.5 硬件设计 | 第34-36页 |
| 3.6 实验结果 | 第36-39页 |
| 3.6.1 向量分解和排序 | 第36-38页 |
| 3.6.2 主分量选取方法 | 第38-39页 |
| 3.7 小结 | 第39-40页 |
| 第4章 位反转及其在分解压缩中的应用 | 第40-53页 |
| 4.1 相关工作 | 第40页 |
| 4.2 位反转方法 | 第40-43页 |
| 4.2.1 三种反转目标 | 第40-41页 |
| 4.2.2 位反转原理 | 第41-42页 |
| 4.2.3 基本过程 | 第42-43页 |
| 4.3 三种反转算法 | 第43-45页 |
| 4.3.1 单游程反转算法 | 第43-44页 |
| 4.3.2 双游程反转算法 | 第44页 |
| 4.3.3 分块编码反转算法 | 第44-45页 |
| 4.4 进一步减少1的个数 | 第45-47页 |
| 4.4.1 扫描单元反转 | 第45-46页 |
| 4.4.2 加入带权随机数 | 第46-47页 |
| 4.5 应用位反转于分解压缩 | 第47页 |
| 4.6 实验结果 | 第47-52页 |
| 4.6.1 三种反转算法 | 第47-49页 |
| 4.6.2 进一步减少1的个数 | 第49-50页 |
| 4.6.3 应用位反转于分解压缩 | 第50-52页 |
| 4.7 小结 | 第52-53页 |
| 第5章 残差集分析与压缩 | 第53-60页 |
| 5.1 残差集分析 | 第54-57页 |
| 5.1.1 测试集每行1的数量分布图 | 第54-55页 |
| 5.1.2 测试集每列1的数量分布图 | 第55-57页 |
| 5.1.3 测试集1的变化对比 | 第57页 |
| 5.2 残差集压缩 | 第57-59页 |
| 5.2.1 去掉不变列 | 第58页 |
| 5.2.2 硬件设计 | 第58-59页 |
| 5.2.3 实验结果 | 第59页 |
| 5.3 小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 附录 A 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第67-68页 |
| 附录 B 攻读硕士学位期间参与项目目录 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
