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伺服控制系统SOC芯片功能分析及测试的研究

致谢第6-7页
摘要第7-8页
ABSTRACT第8页
第一章 绪论第15-20页
    1.1 课题研究的背景和意义第15-16页
    1.2 数控系统的简介和发展第16-17页
    1.3 SOC芯片的研究现状第17-18页
    1.4 论文主要工作第18-19页
    1.5 论文结构安排第19-20页
第二章 NCU(NUMERICAL CONTROL UNIT)核心芯片SOC的功能分析第20-45页
    2.1 系统芯片SOC的概念第20-23页
    2.2 NCU中片上系统SOC部分模块功能分析第23-44页
        2.2.1 CPU第23-26页
        2.2.2 SPI控制器第26-29页
        2.2.3 DDR2 SDRAM控制器第29-33页
        2.2.4 UART控制器第33-35页
        2.2.5 PLL电路第35-36页
        2.2.6 PWM控制器第36页
        2.2.7 Nand Flash控制器第36-37页
        2.2.8 I~2C接口第37-38页
        2.2.9 Watchdog第38-39页
        2.2.10 GPIO寄存器第39页
        2.2.11 RTC模块第39-41页
        2.2.12 USB Host第41-42页
        2.2.13 Interrupt控制器第42-43页
        2.2.14 AC/DC第43-44页
    2.3 本章小结第44-45页
第三章 系统芯片测试技术第45-51页
    3.1 芯片测试的概述第45-46页
    3.2 测试种类第46页
    3.3 ATE简介第46页
    3.4 SOC芯片的可测性设计第46-49页
        3.4.1 扫描测试第47-48页
        3.4.2 内建自测试第48-49页
    3.5 SOC测试未来的发展方向第49-50页
    3.6 本章小结第50-51页
第四章 SOC芯片硬件测试电路的实现第51-70页
    4.1 硬件电路板的总体设计第51-52页
    4.2 主要外围电路模块设计第52-63页
        4.2.1 电源部分电路的设计第52-55页
        4.2.2 UART模块电路设计第55-56页
        4.2.3 SDRAM电路设计第56-57页
        4.2.4 测试板复位电路设计第57-58页
        4.2.5 SOC外部FLASH电路设计第58-60页
        4.2.6 时钟电路设计第60-61页
        4.2.7 SD卡电路设计第61-63页
        4.2.8 LED电路设计第63页
    4.3 SOC测试板的整体电路原理图第63-64页
    4.4 SOC测试板的PCB设计第64-69页
        4.4.1 测试板PCB尺寸和层数选择第64-65页
        4.4.2 测试板PCB布局和布线第65-67页
        4.4.3 测试板PCB设计注意事项第67-68页
        4.4.4 SOC测试板的PCB总图第68-69页
    4.5 本章小结第69-70页
第五章 SOC部分模块测试实验结果分析第70-76页
    5.1 系统调试第70页
    5.2 SOC测试板进行测试分析第70-75页
        5.2.1 芯片中DAC模块功能验证第71-72页
        5.2.2 芯片的PWM模块功能验证第72-73页
        5.2.3 芯片中Flash模块功能验证第73-74页
        5.2.4 芯片中DDR2模块功能验证第74-75页
        5.2.5 USB访问速度测试第75页
    5.3 本章小结第75-76页
第六章 总结与展望第76-78页
    6.1 论文小结第76-77页
    6.2 不足与改进第77-78页
参考文献第78-81页
附录1第81-82页
附录2第82-83页
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况第83页

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