基于Hadamard变换的编码压缩及其主成分增强技术
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第13-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
1.3 本文的主要工作 | 第16-17页 |
1.5 本文的组织结构 | 第17-18页 |
第2章 数字电路测试压缩基础理论 | 第18-35页 |
2.1 测试的基本概念 | 第18-25页 |
2.1.1 测试原理 | 第18-19页 |
2.1.2 测试类型 | 第19-20页 |
2.1.3 故障模型 | 第20-22页 |
2.1.4 测试生成 | 第22-23页 |
2.1.5 故障模拟 | 第23-25页 |
2.2 内建自测试(BIST) | 第25-27页 |
2.2.1 传统BIST | 第25-26页 |
2.2.2 混合BIST | 第26页 |
2.2.3 LSFR重播种 | 第26-27页 |
2.3 测试压缩 | 第27-34页 |
2.3.1 编码压缩 | 第28-30页 |
2.3.2 基于线性解压器的压缩 | 第30-32页 |
2.3.3 广播式压缩 | 第32-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 基于Hadamard变换的编码压缩方法 | 第35-50页 |
3.1 方法概述 | 第35-37页 |
3.2 压缩方案 | 第37-47页 |
3.2.1 Hadamard变换和Walsh函数 | 第37-38页 |
3.2.2 用Hadamard矩阵进行变换分析 | 第38-42页 |
3.2.3 提取主成分 | 第42-43页 |
3.2.4 硬件实现 | 第43-47页 |
3.3 实验结果 | 第47-49页 |
3.4 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 增强测试集的主成分 | 第50-57页 |
4.1 二分图相关概念及KM算法 | 第50-52页 |
4.1.1 二分图相关概念 | 第50-51页 |
4.1.2 KM算法 | 第51-52页 |
4.2 增强测试集主成分 | 第52-54页 |
4.2.1 问题描述 | 第52页 |
4.2.2 建模 | 第52-54页 |
4.3 实验结果 | 第54-56页 |
4.4 本章小结 | 第56-57页 |
结论 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-66页 |
致谢 | 第66页 |