多扫描链测试数据压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 集成电路测试基础 | 第13-17页 |
| 1.2.1 故障模型 | 第13-14页 |
| 1.2.2 可测试性分析 | 第14-15页 |
| 1.2.3 测试向量生成 | 第15-16页 |
| 1.2.4 故障模拟 | 第16-17页 |
| 1.3 SoC测试面临的挑战 | 第17-18页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.5 本文主要工作及组织结构 | 第19-20页 |
| 第2章 SoC测试数据压缩方法 | 第20-32页 |
| 2.1 基于编码的压缩方法 | 第21-27页 |
| 2.1.1 游程编码方法 | 第21-23页 |
| 2.1.2 统计编码方法 | 第23-24页 |
| 2.1.3 数据块编码方法 | 第24-25页 |
| 2.1.4 字典编码方法 | 第25-26页 |
| 2.1.5 结构编码方法 | 第26-27页 |
| 2.2 基于线性解压器的压缩方法 | 第27-29页 |
| 2.3 基于广播扫描的压缩方法 | 第29-31页 |
| 2.4 小结 | 第31-32页 |
| 第3章 基于镜像对称的多扫描链测试数据压缩方法 | 第32-42页 |
| 3.1 基本思想 | 第32-33页 |
| 3.2 MSRS方法设计 | 第33-37页 |
| 3.2.1 MSRS压缩框架 | 第33-34页 |
| 3.2.2 参考切片更新与替换 | 第34-35页 |
| 3.2.3 贪婪相容策略 | 第35-36页 |
| 3.2.4 编码压缩流程 | 第36-37页 |
| 3.3 解压器设计 | 第37-39页 |
| 3.4 实验结果与数据分析 | 第39-41页 |
| 3.5 小结 | 第41-42页 |
| 第4章 基于变换编码的多扫描链测试数据压缩方法 | 第42-51页 |
| 4.1 相关工作 | 第43-47页 |
| 4.1.1 Hadamard变换 | 第43-44页 |
| 4.1.2 测试集的WHT变换 | 第44-46页 |
| 4.1.3 测试向量合成电路 | 第46-47页 |
| 4.2 变换编码广播压缩方法 | 第47-49页 |
| 4.2.1 主分量选取算法 | 第47-48页 |
| 4.2.2 变换编码广播电路结构 | 第48-49页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第49-50页 |
| 4.4 小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-59页 |
| 附录A(攻读硕士学位期间发表的学术论文) | 第59-60页 |
| 附录B(攻读硕士学位期间参与研究的项目) | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
