| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-19页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 集成电路测试面临的挑战 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第14-17页 |
| 1.4 本文主要研究内容及组织结构 | 第17-19页 |
| 第2章 集成电路测试理论 | 第19-35页 |
| 2.1 集成电路测试概述 | 第19-20页 |
| 2.2 故障与故障模型 | 第20-23页 |
| 2.3 测试生成 | 第23-24页 |
| 2.4 测试向量压缩 | 第24-29页 |
| 2.4.1 基于广播扫描压缩方法 | 第25-26页 |
| 2.4.2 基于线性解压结构压缩方法 | 第26-28页 |
| 2.4.3 基于编码压缩方法 | 第28-29页 |
| 2.5 游程编码压缩方法 | 第29-34页 |
| 2.5.1 单游程编码 | 第29-31页 |
| 2.5.2 双游程编码 | 第31-34页 |
| 2.6 小结 | 第34-35页 |
| 第3章 基于响应填充和触发器极性取反的FDR压缩方法 | 第35-43页 |
| 3.1 预备知识 | 第35-36页 |
| 3.2 测试压缩方案 | 第36-39页 |
| 3.2.1 触发器极性取反方案 | 第37-38页 |
| 3.2.2 触发器极性取反和解压缩结构的实现 | 第38-39页 |
| 3.3 触发器极性确定及测试向量重排序 | 第39-40页 |
| 3.4 实验结果 | 第40-42页 |
| 3.5 小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于响应填充和游程编码的高测试质量压缩方法 | 第43-52页 |
| 4.1 响应填充方案 | 第43-44页 |
| 4.2 基于响应填充的EFDR编码 | 第44-46页 |
| 4.3 基于响应填充的AFDR编码 | 第46-48页 |
| 4.4 实验结果 | 第48-51页 |
| 4.5 小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A(攻读硕士学位期间所发表的学术论文目录) | 第60-61页 |
| 附录B(攻读硕士学位期间所参与的学术科研活动) | 第61页 |