基于嵌入式技术的SIP专用芯片测试平台研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第11-13页 |
| 2 嵌入式软件测试技术 | 第13-25页 |
| 2.1 嵌入式系统概述 | 第13-15页 |
| 2.1.1 嵌入式系统的定义 | 第13页 |
| 2.1.2 嵌入式系统的分类 | 第13-14页 |
| 2.1.3 嵌入式系统的特性 | 第14-15页 |
| 2.1.4 嵌入式系统的开发流程 | 第15页 |
| 2.2 软件测试概述 | 第15-18页 |
| 2.2.1 软件测试的目的 | 第16页 |
| 2.2.2 软件测试的等级 | 第16-18页 |
| 2.3 嵌入式软件测试 | 第18-22页 |
| 2.3.1 嵌入式软件的定义和分类 | 第18页 |
| 2.3.2 嵌入式软件的特性 | 第18页 |
| 2.3.3 嵌入式软件的开发 | 第18-19页 |
| 2.3.4 嵌入式软件的测试策略 | 第19-21页 |
| 2.3.5 嵌入式软件测试的主要方法 | 第21-22页 |
| 2.4 SIP芯片与嵌入式技术 | 第22-24页 |
| 2.4.1 SIP芯片简介 | 第22-23页 |
| 2.4.2 SIP芯片测试平台 | 第23页 |
| 2.4.3 SIP芯片在嵌入式技术中应用 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 3 嵌入式软件测试平台的设计与分析 | 第25-36页 |
| 3.1 测试平台的设计 | 第25-27页 |
| 3.1.1 测试平台设计的前提 | 第25页 |
| 3.1.2 测试平台的提出 | 第25-26页 |
| 3.1.3 测试平台的整体结构 | 第26-27页 |
| 3.2 测试方案的选择 | 第27-28页 |
| 3.3 测试平台软件组成 | 第28-30页 |
| 3.4 测试用例生成技术 | 第30-33页 |
| 3.5 程序移植 | 第33-35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 4 SIP专用芯片测试平台的实现 | 第36-49页 |
| 4.1 测试平台的通信设计 | 第36页 |
| 4.2 上位机与ARM之间的USB通信 | 第36-40页 |
| 4.2.1 USB通信介绍 | 第37页 |
| 4.2.2 ARM芯片USB通信的实现 | 第37-38页 |
| 4.2.3 上位机USB通信的实现 | 第38-39页 |
| 4.2.4 测试平台USB通信的实现 | 第39-40页 |
| 4.3 ARM与主控DSP之间的SPI通信 | 第40-44页 |
| 4.3.1 SPI通信介绍 | 第40-41页 |
| 4.3.2 SPI通信的实现 | 第41-42页 |
| 4.3.3 测试平台SPI通信的实现 | 第42-44页 |
| 4.4 DSP之间的双口RAM通信 | 第44-47页 |
| 4.4.1 RAM通信 | 第44-45页 |
| 4.4.2 双口RAM通信的实现 | 第45-47页 |
| 4.5 测试报告生成机制 | 第47-48页 |
| 4.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 SIP专用芯片测试平台的应用 | 第49-61页 |
| 5.1 SIP专用芯片测试平台界面 | 第49页 |
| 5.2 SIP专用芯片测试平台测试流程 | 第49-55页 |
| 5.3 SIP专用芯片测试平台的应用 | 第55-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 6 总结 | 第61-63页 |
| 6.1 全文总结 | 第61页 |
| 6.2 论文的创新点 | 第61-62页 |
| 6.3 论文的不足之处 | 第62-63页 |
| 7 展望 | 第63-64页 |
| 8 参考文献 | 第64-68页 |
| 9 攻读工程硕士学位期间发表论文情况 | 第68-69页 |
| 10 致谢 | 第69页 |
