基于SOPC技术芯片自动测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 集成电路测试现状简析 | 第8-9页 |
| 1.2 芯片测试流程 | 第9-10页 |
| 1.3 本文研究目的及意义 | 第10-11页 |
| 1.4 论文章节结构 | 第11-12页 |
| 第2章 测试系统设计要求分析 | 第12-21页 |
| 2.1 MEMS数字检波器简介 | 第12-15页 |
| 2.1.1 被测芯片结构 | 第13-14页 |
| 2.1.2 接口方式 | 第14-15页 |
| 2.2 测试平台设计要求分析 | 第15-17页 |
| 2.2.1 测试平台功能及指标 | 第15-16页 |
| 2.2.2 测试平台结构分析 | 第16-17页 |
| 2.3 硬件系统设计要求分析 | 第17-18页 |
| 2.3.1 IIC接口控制器 | 第17-18页 |
| 2.3.2 数据采集模块需求分析 | 第18页 |
| 2.3.3 数据接口模块 | 第18页 |
| 2.4 测试平台软件设计需求分析 | 第18-20页 |
| 2.4.1 控制指令及控制数据发送模块分析 | 第19页 |
| 2.4.2 数据接收与处理模块分析 | 第19-20页 |
| 2.4.3 波形显示功能分析 | 第20页 |
| 2.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 系统设计与实现 | 第21-45页 |
| 3.1 系统架构 | 第21-23页 |
| 3.2 下位机系统设计与实现 | 第23-30页 |
| 3.2.1 数据采集模块设计与实现 | 第24-29页 |
| 3.2.2 IIC接口控制模块设计与实现 | 第29-30页 |
| 3.3 SOPC系统开发 | 第30-37页 |
| 3.3.1 SOPC技术简介 | 第30-31页 |
| 3.3.2 外设组件 | 第31-33页 |
| 3.3.3 NIOS Ⅱ系统开发流程 | 第33-34页 |
| 3.3.4 NIOS Ⅱ软件驱动设计 | 第34-37页 |
| 3.4 上位机软件设计 | 第37-44页 |
| 3.4.1 Visual Studio简介 | 第37页 |
| 3.4.2 指令、数据发送模块设计 | 第37-39页 |
| 3.4.3 数据接收模块设计 | 第39-40页 |
| 3.4.4 数据处理模块设计 | 第40-41页 |
| 3.4.5 图形显示模块设计 | 第41-42页 |
| 3.4.6 GUI界面设计 | 第42-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 系统测试及对比分析 | 第45-56页 |
| 4.1 测试平台模块功能测试 | 第45-48页 |
| 4.1.1 程序下载 | 第45-46页 |
| 4.1.2 串行接口功能测试 | 第46-47页 |
| 4.1.3 IIC接口功能测试 | 第47页 |
| 4.1.4 采集模块和图形显示模块功能测试 | 第47-48页 |
| 4.2 待测芯片测试结果及分析 | 第48-55页 |
| 4.2.1 传统方法芯片测试 | 第49-50页 |
| 4.2.2 SOPC测试平台芯片测试 | 第50-55页 |
| 4.2.3 结果分析 | 第55页 |
| 4.3 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 总结 | 第56-57页 |
| 5.2 展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 个人简历 | 第62-63页 |
| 在校期间发表的学术论文及研究成果 | 第63页 |
