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PMIC自动化测试平台的设计与实现

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 引言第11-17页
    1.1 课题研究背景及意义第11-12页
    1.2 国内外研究现状与发展趋势第12-15页
        1.2.1 国内外研究现状第12-14页
        1.2.2 发展趋势第14-15页
    1.3 论文主要研究内容第15-17页
第2章 自动化测试平台的总体设计第17-31页
    2.1 芯片测试的分类第17-18页
    2.2 性能评估测试的内容和测试方法第18-28页
        2.2.1 效率Efficiency测试第19-21页
        2.2.2 负载调整率LoadRegulation测试第21-23页
        2.2.3 纹波Ripple测试第23-26页
        2.2.4 负载瞬态响应LoadTransient测试第26-27页
        2.2.5 IIC读写测试第27-28页
    2.3 PMIC自动化测试平台的总体方案第28-30页
        2.3.1 硬件方案第28-29页
        2.3.2 上位机软件方案第29-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 硬件电路设计第31-49页
    3.1 待测PMIC简介第31页
    3.2 EVB评估板的子板设计第31-45页
        3.2.1 子板的BuckABCD的输入和输出电路设计第32-36页
        3.2.2 子板的LDO输入和输出电路设计第36-38页
        3.2.3 子板的LoadTransient电路设计第38-41页
        3.2.4 子板的IIC接口电路设计第41-43页
        3.2.5 子板的芯片插座Socket选择第43页
        3.2.6 子板的PCB设计第43-45页
    3.3 EVB评估板的母板设计第45-48页
    3.4 本章小结第48-49页
第4章 上位机软件开发设计第49-69页
    4.1 上位机软件的需求分析第49-50页
    4.2 上位机软件开发语言的选择第50-51页
    4.3 上位机软件的GUI用户图形界面设计第51-54页
    4.4 上位机软件控制仪器设备第54-60页
        4.4.1 SCPI命令介绍第54-56页
        4.4.2 VISA技术介绍第56-57页
        4.4.3 控制总线的选择第57-59页
        4.4.4 设备的VISA驱动开发第59-60页
    4.5 上位机软件控制PMIC第60-68页
        4.5.1 PMIC的通信方案第60-62页
        4.5.2 IIC总线第62页
        4.5.3 PMIC芯片驱动开发第62-65页
        4.5.4 IIC适配器驱动开发第65-68页
    4.6 本章小结第68-69页
第5章 自动化测试平台的测试第69-82页
    5.1 效率和负载调整率测试用例第69-75页
    5.2 纹波测试用例第75-77页
    5.3 负载瞬态响应测试用例第77-79页
    5.4 IIC接口读写测试用例第79-81页
    5.5 本章小结第81-82页
结论第82-84页
致谢第84-85页
参考文献第85-88页
附录第88-89页
    A.缩略语对照表第88-89页

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