| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 引言 | 第11-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第12-15页 |
| 1.2.1 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 发展趋势 | 第14-15页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 自动化测试平台的总体设计 | 第17-31页 |
| 2.1 芯片测试的分类 | 第17-18页 |
| 2.2 性能评估测试的内容和测试方法 | 第18-28页 |
| 2.2.1 效率Efficiency测试 | 第19-21页 |
| 2.2.2 负载调整率LoadRegulation测试 | 第21-23页 |
| 2.2.3 纹波Ripple测试 | 第23-26页 |
| 2.2.4 负载瞬态响应LoadTransient测试 | 第26-27页 |
| 2.2.5 IIC读写测试 | 第27-28页 |
| 2.3 PMIC自动化测试平台的总体方案 | 第28-30页 |
| 2.3.1 硬件方案 | 第28-29页 |
| 2.3.2 上位机软件方案 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 硬件电路设计 | 第31-49页 |
| 3.1 待测PMIC简介 | 第31页 |
| 3.2 EVB评估板的子板设计 | 第31-45页 |
| 3.2.1 子板的BuckABCD的输入和输出电路设计 | 第32-36页 |
| 3.2.2 子板的LDO输入和输出电路设计 | 第36-38页 |
| 3.2.3 子板的LoadTransient电路设计 | 第38-41页 |
| 3.2.4 子板的IIC接口电路设计 | 第41-43页 |
| 3.2.5 子板的芯片插座Socket选择 | 第43页 |
| 3.2.6 子板的PCB设计 | 第43-45页 |
| 3.3 EVB评估板的母板设计 | 第45-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 上位机软件开发设计 | 第49-69页 |
| 4.1 上位机软件的需求分析 | 第49-50页 |
| 4.2 上位机软件开发语言的选择 | 第50-51页 |
| 4.3 上位机软件的GUI用户图形界面设计 | 第51-54页 |
| 4.4 上位机软件控制仪器设备 | 第54-60页 |
| 4.4.1 SCPI命令介绍 | 第54-56页 |
| 4.4.2 VISA技术介绍 | 第56-57页 |
| 4.4.3 控制总线的选择 | 第57-59页 |
| 4.4.4 设备的VISA驱动开发 | 第59-60页 |
| 4.5 上位机软件控制PMIC | 第60-68页 |
| 4.5.1 PMIC的通信方案 | 第60-62页 |
| 4.5.2 IIC总线 | 第62页 |
| 4.5.3 PMIC芯片驱动开发 | 第62-65页 |
| 4.5.4 IIC适配器驱动开发 | 第65-68页 |
| 4.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 自动化测试平台的测试 | 第69-82页 |
| 5.1 效率和负载调整率测试用例 | 第69-75页 |
| 5.2 纹波测试用例 | 第75-77页 |
| 5.3 负载瞬态响应测试用例 | 第77-79页 |
| 5.4 IIC接口读写测试用例 | 第79-81页 |
| 5.5 本章小结 | 第81-82页 |
| 结论 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 附录 | 第88-89页 |
| A.缩略语对照表 | 第88-89页 |
