| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 选题背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究状况 | 第10-12页 |
| 1.3 本文主要研究内容和章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 验证方法学 | 第13-24页 |
| 2.1 验证基础理论 | 第13页 |
| 2.2 SystemVerilog语言 | 第13-14页 |
| 2.3 UVM验证方法学 | 第14-23页 |
| 2.3.1 验证平台 | 第14-15页 |
| 2.3.2 验证平台组件 | 第15-16页 |
| 2.3.3 UVM的类库 | 第16-17页 |
| 2.3.4 UVM的树形结构 | 第17-18页 |
| 2.3.5 UVM中的transaction | 第18页 |
| 2.3.6 UVM中的factory机制 | 第18-19页 |
| 2.3.7 UVM中的objection机制 | 第19页 |
| 2.3.8 UVM中的phase机制 | 第19-20页 |
| 2.3.9 UVM中的sequence机制 | 第20-21页 |
| 2.3.10 UVM中的寄存器模型 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 Flash控制器模块的UVM验证方案 | 第24-37页 |
| 3.1 硬件设计框架 | 第24-29页 |
| 3.1.1 Flash控制器模块架构 | 第25-26页 |
| 3.1.2 Flash系统 | 第26-29页 |
| 3.2 Flash控制器模块功能介绍 | 第29-30页 |
| 3.2.1 支持主机访问 | 第30页 |
| 3.2.2 支持多Plane操作 | 第30页 |
| 3.2.3 支持多CE写入 | 第30页 |
| 3.2.4 支持CRC校验 | 第30页 |
| 3.3 Flash控制器模块的状态机设计 | 第30-33页 |
| 3.3.1 写入数据状态机 | 第30-31页 |
| 3.3.2 读取数据状态机设计 | 第31-32页 |
| 3.3.3 擦除数据状态机设计 | 第32页 |
| 3.3.4 设置模块状态机设计 | 第32-33页 |
| 3.4 Flash控制器模块的UVM验证方案 | 第33-36页 |
| 3.4.1 验证策划 | 第33页 |
| 3.4.2 验证方案架构 | 第33-36页 |
| 3.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 UVM验证组件的实现 | 第37-51页 |
| 4.1 UVM验证平台的transaction | 第37-38页 |
| 4.2 UVM验证平台的interface | 第38-39页 |
| 4.3 UVM验证平台的sequence机制 | 第39-42页 |
| 4.3.1 UVM验证平台的sequencer | 第39-40页 |
| 4.3.2 UVM验证平台的sequence | 第40-42页 |
| 4.4 UVM验证平台的driver组件 | 第42-45页 |
| 4.5 UVM验证平台的monitor | 第45页 |
| 4.6 UVM验证平台的referencemodel | 第45-46页 |
| 4.7 UVM验证平台的scoreboard | 第46-47页 |
| 4.8 UVM验证平台的agent | 第47页 |
| 4.9 UVM验证平台的env | 第47-49页 |
| 4.10 UVM验证平台的base_test | 第49-50页 |
| 4.11 UVM验证平台的top | 第50页 |
| 4.12 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 Flash控制器模块的验证仿真 | 第51-61页 |
| 5.1 测试用例及仿真 | 第51-57页 |
| 5.1.1 冒烟测试 | 第52-53页 |
| 5.1.2 读写功能测试 | 第53-56页 |
| 5.1.3 ECC纠错功能测试 | 第56-57页 |
| 5.2 验证平台覆盖率 | 第57-59页 |
| 5.3 Flash控制器模块应用实物图 | 第59-60页 |
| 5.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 6.1 总结 | 第61页 |
| 6.2 展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录 | 第68页 |