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半导体技术
0.6um BCD工艺中LDMOS器件的优化
表面等离子体晶体在半导体发光器件中的应用
纳米CMOS工艺中高性能BJT研究与建模
暗场散射技术在晶圆表面缺陷检测中的新应用研究
半导体光刻工艺中图形缺陷问题的研究及解决
有机晶体管门电压效应——第一性原理研究
大功率半绝缘GaAs光电导开关瞬态传输特性及其损伤机理的研究
高性能磁控溅射靶枪的设计
基于DMD的数字无掩模光刻成像系统设计
超深亚微米SiGe SOI MOSFETs的特性研究
基于主方程法单电子晶体管的建模及其电路仿真的研究
半导体表面平坦化及新型高性能湿式清洗工艺的研究
6H-SiC衬底上生长p-SiCGe薄膜的研究
SJ MOSFET特性分析与设计
深亚微米全耗尽SOI CMOS的高温应用分析
半绝缘GaAs开关中光激发电荷畴的理论研究
SiC单晶抛光片的制备与表征
6H-SiC上3C-SiC缓冲层及SiCGe薄膜的生长
钒掺杂半绝缘SiC的制备及特性研究
超深亚微米CMOS器件GIDL电流及其可靠性研究
纳米SOI MOSFET的结构设计和性能分析
4H-SiC MESFET非线性模型研究
超深亚微米MOS器件RTS噪声研究
SiC MOS器件和电路温度特性的研究
一种背光LED驱动芯片的研究与设计
高压直流阀控中晶闸管监控系统和传输控制系统的研制
环形SrTiO3双功能元件的研究
SiC高温电学特性研究
高效率自适应电荷泵型白光LED驱动器XD9107的设计
SiC垂直功率MOSFET的设计与特性仿真
基于多孔硅衬底的碳化硅APCVD生长研究
MOS器件的HPM辐照效应研究
肖特基二极管抗辐照能力表征技术研究
SiO2介质材料辐照损伤—噪声测试结构研究
硅衬底辐照损伤噪声测试样品研究
射频LDMOS的击穿电压与静电保护
纳米MOS器件中的量子效应分析及其模拟
功率MOS器件抗辐照能力无损评价方法研究
氮化镓基发光二极管的低频噪声研究
射频VDMOS器件结构研究
晶体管建模技术的研究
基于第一性原理的ZnO材料的计算机模拟计算
SOI-LDMOS器件的结构设计
GaN基LED的关键技术研究
P型GaN欧姆接触特性研究
AlInGaN/GaN HFET结构材料设计与生长技术研究
AlGaN/GaN FP-HEMTs研究
基于ANSYS的MOCVD反应室有限元分析
AlGaN/GaN HEMT空气桥技术研究
MOCVD设备反应室的设计与分析
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