| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| 1.1 研究的背景 | 第13页 |
| 1.2 研究的必要性和意义 | 第13-14页 |
| 1.2.1 研究的必要性 | 第13-14页 |
| 1.2.2 研究的意义 | 第14页 |
| 1.3 相关研究综述 | 第14-18页 |
| 1.3.1 生产控制与调度策略的研究现状综述 | 第14-16页 |
| 1.3.2 芯片生产控制与调度策略研究现状综述 | 第16-18页 |
| 1.3.3 文献总结 | 第18页 |
| 1.4 研究的内容及结构安排 | 第18-21页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第18-19页 |
| 1.4.2 文章结构安排 | 第19页 |
| 1.4.3 技术路线 | 第19-21页 |
| 1.5 本文可能的创新成果 | 第21-23页 |
| 第二章 相关理论介绍 | 第23-33页 |
| 2.1 DBR理论 | 第23-24页 |
| 2.2 DBR与JIT,MRPII的比较分析 | 第24-25页 |
| 2.3 TOC约束理论 | 第25-26页 |
| 2.4 离散事件动态系统仿真相关理论 | 第26-31页 |
| 2.4.1 离散事件动态系统 | 第26页 |
| 2.4.2 离散事件系统仿真的策略 | 第26-29页 |
| 2.4.4 离散事件动态系统建模的流程 | 第29-31页 |
| 2.4.5 芯片终端测试系统符合离散事件系统仿真特性 | 第31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 芯片终端测试生产系统的描述 | 第33-43页 |
| 3.1 公司背景介绍 | 第33页 |
| 3.2 芯片终端测试生产系统工艺介绍 | 第33-35页 |
| 3.3 芯片终端测试生产系统特性的剖析与总结 | 第35-37页 |
| 3.4 芯片终端测试生产系统规则描述 | 第37-40页 |
| 3.4.1 重入性芯片终端测试生产系统工艺流程 | 第37-39页 |
| 3.4.2 芯片终端测试生产系统的数学描述 | 第39-40页 |
| 3.5 芯片终端测试生产系统的性能指标 | 第40-42页 |
| 3.5.1 生产系统常用性能指标 | 第41页 |
| 3.5.2 芯片终端测试生产系统的性能指标的确定 | 第41-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 基于eM-Plant芯片终端测试生产系统仿真实现 | 第43-55页 |
| 4.1 eM-Plant仿真软件的介绍 | 第43-45页 |
| 4.1.1 eM-Plant功能特点 | 第43-44页 |
| 4.1.2 eM-Plant主要模块介绍 | 第44-45页 |
| 4.2 芯片终端测试生产系统仿真模型的实现 | 第45-54页 |
| 4.2.1 投料部分的实现 | 第45-46页 |
| 4.2.2 参数输入部分 | 第46-47页 |
| 4.2.3 测试中心模块的实现 | 第47-50页 |
| 4.2.4 预考炉中心模型的实现 | 第50-51页 |
| 4.2.5 设备管理模块 | 第51页 |
| 4.2.6 统计模块 | 第51-52页 |
| 4.2.7 相关参数说明 | 第52-54页 |
| 4.3 仿真模型验证 | 第54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 层次生产控制与调度策略提出与实现 | 第55-75页 |
| 5.1 常用生产控制与调度策略 | 第55-58页 |
| 5.1.1 常用投料策略 | 第55-56页 |
| 5.1.2 常见缓冲区调度规则 | 第56-57页 |
| 5.1.3 常用生产控制与调度策略总结 | 第57-58页 |
| 5.2 芯片终端测试系统层次生产控制与调度策略的提出 | 第58-59页 |
| 5.3 确定关键资源配置 | 第59-63页 |
| 5.3.1 关键资源初始配比的计算 | 第59-61页 |
| 5.3.2 试验设计确定关键资源最佳配比 | 第61-63页 |
| 5.4 识别系统瓶颈 | 第63-65页 |
| 5.4.1 识别系统瓶颈的方法 | 第63-64页 |
| 5.4.2 仿真识别系统瓶颈 | 第64-65页 |
| 5.5 投料策略的制定 | 第65-68页 |
| 5.5.1 基于瓶颈中心在制品的避免饥饿CON-SA投料策略 | 第65-67页 |
| 5.5.2 实验设计确定最佳阈值 | 第67-68页 |
| 5.6 关键资源的缓冲区的调度规则 | 第68-75页 |
| 5.6.1 预烤炉中心批调度规则 | 第68-70页 |
| 5.6.2 测试中心缓冲区启发式调度规则 | 第70-75页 |
| 第六章 层次生产控制与调度策略与常用策略的仿真对比 | 第75-81页 |
| 6.1 不同投料策略下的性能指标的对比 | 第75-77页 |
| 6.1.1 不同投料策略下订单完工时间的对比 | 第75-76页 |
| 6.1.2 不同投料策略下关键资源的设备利用率的对比 | 第76-77页 |
| 6.2 CON-SA投料策略下不同调度规则性能指标的对比 | 第77-80页 |
| 6.2.1 订单完成时间的对比 | 第77-78页 |
| 6.2.2 平均生产周期的对比 | 第78-79页 |
| 6.2.3 设备准备时间的对比 | 第79-80页 |
| 6.3 本章小结 | 第80-81页 |
| 第七章 总结与展望 | 第81-83页 |
| 7.1 研究内容和主要结论 | 第81-82页 |
| 7.2 论文的展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
