| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文研究目的 | 第11-13页 |
| 2 方案制订与比较 | 第13-17页 |
| 2.1 总线技术与方案比较 | 第13-15页 |
| 2.2 虚拟仪器技术的概念 | 第15-17页 |
| 3 测试系统硬件配置 | 第17-30页 |
| 3.1 测试系统硬件整体设计 | 第17-19页 |
| 3.2 PXI-6733同步模拟输出卡 | 第19-20页 |
| 3.3 PXI-6608计数器卡 | 第20-21页 |
| 3.4 PXI-6541数字波形发生器 | 第21-23页 |
| 3.5 PXI-2530B矩阵开关模块 | 第23-24页 |
| 3.6 AGILENT-34410A数字万用表 | 第24页 |
| 3.7 AGILENT-33250A信号源 | 第24-25页 |
| 3.8 AGILENT-E3649A程控电源 | 第25-26页 |
| 3.9 AGILENT-DSOX2024示波器 | 第26页 |
| 3.10 DH1716A-4大功率电源 | 第26-27页 |
| 3.11 测试系统接口与适配器 | 第27页 |
| 3.12 测试系统自检 | 第27-30页 |
| 4 测试系统软件 | 第30-39页 |
| 4.1 软件开发环境 | 第30-31页 |
| 4.2 设备驱动和软件库 | 第31-32页 |
| 4.3 PXI-6733同步模拟输出卡软件设计 | 第32-33页 |
| 4.4 PXI-6608计数器卡软件设计 | 第33页 |
| 4.5 PXI-6541数字波形发生器软件设计 | 第33-34页 |
| 4.6 PXI-2530B矩阵开关模块软件设计 | 第34-35页 |
| 4.7 AGILENT-34410A数字万用表软件设计 | 第35页 |
| 4.8 AGILENT-33250A信号源软件设计 | 第35-36页 |
| 4.9 AGILENT-E3649A程控电源软件设计 | 第36-37页 |
| 4.10 AGILENT-DSOX2024示波器软件设计 | 第37-39页 |
| 5 一种典型混合集成电路测试 | 第39-64页 |
| 5.1 测试指标与测试设计流程 | 第39-42页 |
| 5.2 混合集成电路适配器设计原理 | 第42-43页 |
| 5.3 激励信号与矩阵开关设计 | 第43-45页 |
| 5.4 软件前面板设计与测试步骤 | 第45-48页 |
| 5.5 静动态工作电流测试 | 第48-50页 |
| 5.5.1 静态工作电流测试 | 第48-49页 |
| 5.5.2 动态工作电流测试 | 第49-50页 |
| 5.6 输入端电阻测试 | 第50-53页 |
| 5.6.1 IN4端的输入电阻测试 | 第50-51页 |
| 5.6.2 IN5端的输入电阻测试 | 第51-52页 |
| 5.6.3 IN15端的输入电阻测试 | 第52-53页 |
| 5.7 抗干扰输出测试 | 第53-54页 |
| 5.7.1 OUT3端抗干扰输出测试 | 第53-54页 |
| 5.7.2 OUT4端抗干扰输出测试 | 第54页 |
| 5.8 高低电压和限幅电压测试 | 第54-57页 |
| 5.8.1 OUT3端高低电压和限幅电压测试 | 第54-56页 |
| 5.8.2 OUT4端高低电压和限幅电压测试 | 第56-57页 |
| 5.9 防误触发与延时时间测试 | 第57-60页 |
| 5.9.1 OUT8端7.5V触发与低电平测试 | 第57-58页 |
| 5.9.2 OUT8端延迟时间与高电平测试 | 第58-59页 |
| 5.9.3 OOTD端延迟时间测试 | 第59-60页 |
| 5.10 极限电压下电路功能测试 | 第60-62页 |
| 5.10.1 极限电压下电路功能测试 | 第60-61页 |
| 5.10.2 内部二极管输出电压测试 | 第61-62页 |
| 5.11 电源拉偏测试 | 第62-64页 |
| 5.11.1 高温高压下电源拉偏测试 | 第62页 |
| 5.11.2 低温低压下电源拉偏测试 | 第62-64页 |
| 6 总结与展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
