非接触式IC卡硬件驱动层的系统测试方法研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 研究背景 | 第9页 |
| 1.2 研究目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.3 研究目标和内容 | 第10页 |
| 1.4 论文结构 | 第10-12页 |
| 2 嵌入式软件测试的国内外研究现状 | 第12-19页 |
| 2.1 嵌入式软件统一测试模型 | 第12-13页 |
| 2.1.1 嵌入式软件测试特点 | 第12-13页 |
| 2.1.2 统一测试模型 | 第13页 |
| 2.2 嵌入式软件系统测试种类与测试方法 | 第13-16页 |
| 2.2.1 嵌入式软件系统测试种类 | 第14页 |
| 2.2.2 嵌入式软件系统测试方法 | 第14-16页 |
| 2.3 嵌入式软件安全性评估 | 第16-18页 |
| 2.3.1 CC 简介 | 第16页 |
| 2.3.2 EAL4+中对于测试方面的要求 | 第16-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 硬件驱动层(HWD)简介 | 第19-22页 |
| 3.1 Hwd 的子系统划分 | 第19-20页 |
| 3.2 Hwd 的执行流程 | 第20-21页 |
| 3.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 4 HWD 系统测试的测试用例设计 | 第22-34页 |
| 4.1 功能测试用例设计 | 第22-32页 |
| 4.1.1 测试用例设计方法 | 第22-23页 |
| 4.1.2 从EAL4＋来考虑安全功能的测试用例 | 第23-28页 |
| 4.1.3 测试数据来源 | 第28-32页 |
| 4.2 性能测试用例设计 | 第32页 |
| 4.3 恢复测试用例设计 | 第32-33页 |
| 4.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 5 样卡的回归测试方法 | 第34-44页 |
| 5.1 回归测试的两种方法 | 第34-35页 |
| 5.2 下载脚本的生成工具 | 第35-39页 |
| 5.3 用批处理文件形式批量生成Bin 文件 | 第39-42页 |
| 5.4 用读指令来定位硬件错误 | 第42页 |
| 5.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 6 系统测试方案 | 第44-55页 |
| 6.1 测试架构 | 第44-45页 |
| 6.2 测试环境 | 第45-46页 |
| 6.3 测试结果验证 | 第46-48页 |
| 6.3.1 功能测试结果验证 | 第46-48页 |
| 6.3.2 性能测试结果验证 | 第48页 |
| 6.3.3 恢复测试结果验证 | 第48页 |
| 6.4 Bug 管理流程 | 第48-54页 |
| 6.4.1 Bug 的分类标准 | 第49-51页 |
| 6.4.2 Bug 的管理流程 | 第51-54页 |
| 6.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 7 总结与展望 | 第55-57页 |
| 7.1 本文工作总结 | 第55页 |
| 7.2 展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第60-62页 |
