基于Specman的USIM核验证
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题的背景及研究意义 | 第8页 |
| 1.2 完全自动化验证系统 | 第8-12页 |
| 第二章 SPECMAN EVC | 第12-28页 |
| 2.1 综述 | 第12页 |
| 2.2 特征 | 第12-13页 |
| 2.3 主要概念 | 第13-16页 |
| 2.3.1 数据库 | 第13-14页 |
| 2.3.2 API和sequence | 第14-15页 |
| 2.3.3 工作拓扑 | 第15页 |
| 2.3.4 总线协议限制 | 第15-16页 |
| 2.4 EVC操作 | 第16-18页 |
| 2.4.1 eVC总线 | 第17页 |
| 2.4.2 eVC配置 | 第17-18页 |
| 2.4.3 eVC计分板 | 第18页 |
| 2.5 EVC结构和操作 | 第18-28页 |
| 2.5.1 拓扑数据库 | 第19-22页 |
| 2.5.2 工作拓扑 | 第22-25页 |
| 2.5.3 计分板 | 第25-28页 |
| 第三章 USIM IP核分析 | 第28-46页 |
| 3.1 USIM模块框图 | 第29页 |
| 3.2 时钟控制 | 第29-31页 |
| 3.3 USIM激活与关闭 | 第31-34页 |
| 3.3.1 SIM卡和电池检测功能 | 第31页 |
| 3.3.2 初始化序列 | 第31-33页 |
| 3.3.3 断电序列 | 第33-34页 |
| 3.4 字符模式(CHARACTER MODE) | 第34-35页 |
| 3.4.1 字符的接收 | 第34-35页 |
| 3.4.2 字符的发送 | 第35页 |
| 3.5 T0模式 | 第35-38页 |
| 3.5.1 读操作 | 第35-37页 |
| 3.5.2 写操作 | 第37页 |
| 3.5.3 TX中止 | 第37-38页 |
| 3.6 T1模式 | 第38-41页 |
| 3.6.1 字符格式 | 第38页 |
| 3.6.2 数据帧结构 | 第38-40页 |
| 3.6.3 中断操作 | 第40页 |
| 3.6.4 自动接收 | 第40-41页 |
| 3.6.5 T1状态机 | 第41页 |
| 3.7 字符间距和超时检测 | 第41-44页 |
| 3.7.1 字符间距(spacing) | 第42-43页 |
| 3.7.2 超时检测机制 | 第43-44页 |
| 3.8 中断和DMA | 第44-46页 |
| 第四章 USIM测试平台设计 | 第46-74页 |
| 4.1 测试平台架构 | 第46-49页 |
| 4.2 VHDL顶层 | 第49-51页 |
| 4.3 AHBEVC | 第51-54页 |
| 4.3.1 AHB接口的验证 | 第51-52页 |
| 4.3.2 搭建AHB接口验证环境 | 第52页 |
| 4.3.3 AHB接口仿真与验证 | 第52-54页 |
| 4.4 UICCEVC | 第54-63页 |
| 4.4.1 UICC验证策略的制定 | 第54-55页 |
| 4.4.2 搭建UICC接口验证环境 | 第55-58页 |
| 4.4.3 UICC模型 | 第58-61页 |
| 4.4.4 终端模型 | 第61-63页 |
| 4.5 检查模型 | 第63-65页 |
| 4.5.1 数据检查 | 第63-64页 |
| 4.5.2 临时检查 | 第64-65页 |
| 4.6 寄存器检测 | 第65-69页 |
| 4.6.1 寄存器检测机制的建立 | 第65-68页 |
| 4.6.2 寄存器检测的验证 | 第68-69页 |
| 4.7 测试实例(Test Case) | 第69-74页 |
| 第五章 USIM验证结果分析 | 第74-76页 |
| 5.1 回归测试 | 第74页 |
| 5.2 代码覆盖结果 | 第74-75页 |
| 5.3 功能覆盖结果 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
