集成电路测试生成的算法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第7页 |
| 1.2 集成电路简介 | 第7-8页 |
| 1.3 集成电路测试生成算法概述 | 第8-12页 |
| 1.3.1 测试生成的基本原理 | 第8页 |
| 1.3.2 测试生成方法分类 | 第8页 |
| 1.3.3 测试生成相关概念 | 第8-9页 |
| 1.3.4 故障模型 | 第9-12页 |
| 1.4 集成电路的可测性设计 | 第12-13页 |
| 1.5 国内外研究现状 | 第13页 |
| 1.6 课题主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第二章 基于粒子群算法集成电路的测试生成 | 第14-21页 |
| 2.1 粒子群算法简介 | 第14-18页 |
| 2.1.1 粒子群算法的思想来源 | 第14页 |
| 2.1.2 粒子群优化算法的基本原理 | 第14-18页 |
| 2.2 粒子群算法的基本流程 | 第18-19页 |
| 2.3 粒子群优化算法的实现 | 第19-21页 |
| 第三章 基于蚁群算法集成电路的测试生成 | 第21-33页 |
| 3.1 蚁群算法的简介 | 第21-24页 |
| 3.1.1 蚁群算法的思想来源 | 第21页 |
| 3.1.2 蚁群优化算法的基本原理 | 第21-24页 |
| 3.2 基于蚁群算法的自动测试生成 | 第24-28页 |
| 3.2.1 蚁群算法的基本模型 | 第24-26页 |
| 3.2.2 蚂蚁算法自动测试生成的实现步骤 | 第26-27页 |
| 3.2.3 蚂蚁算法的的程序结构流程图 | 第27-28页 |
| 3.3 测试生成的软件实现 | 第28-33页 |
| 第四章 基于遗传算法的集成电路测试生成 | 第33-41页 |
| 4.1 遗传算法基本概念 | 第33-35页 |
| 4.1.1 遗传算法思想及流程 | 第33-35页 |
| 4.2 基于遗传算法的测试生成的基本思想 | 第35-36页 |
| 4.2.1 软件测试方案的基本思想 | 第35页 |
| 4.2.2 基于遗传算法的测试生成基本思想 | 第35-36页 |
| 4.3 基于遗传算法的测试生成实现 | 第36-38页 |
| 4.3.1 编码策略 | 第36页 |
| 4.3.2 适应度函数和程序插桩 | 第36-37页 |
| 4.3.3 遗传策略 | 第37-38页 |
| 4.3.4 参数的控制 | 第38页 |
| 4.4 基于遗传算法的测试生成实现步骤 | 第38-39页 |
| 4.5 程序流程分析 | 第39页 |
| 4.7 参数设定 | 第39-41页 |
| 4.7.1 参数的设定 | 第39-41页 |
| 第五章 总结与展望 | 第41-44页 |
| 5.1 系统仿真与实验的结果分析 | 第41-43页 |
| 5.2 总结 | 第43页 |
| 5.3 本文的创新点 | 第43页 |
| 5.4 展望 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
