| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 集成电路自动测试系统国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.1 集成电路测试向量生成算法国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 集成电路自动测试系统国内外研究现状 | 第13页 |
| 1.3 集成电路自动测试系统的发展趋势 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第14-16页 |
| 第2章 测试向量自动生成技术及应用 | 第16-32页 |
| 2.1 ATPG 技术 | 第16-25页 |
| 2.1.1 故障和故障模型 | 第17-21页 |
| 2.1.2 ATPG 算法及复杂度 | 第21-25页 |
| 2.2 布尔可满足性问题 | 第25-26页 |
| 2.2.1 SAT 问题简介 | 第25页 |
| 2.2.2 求解方法 | 第25-26页 |
| 2.3 基于 ATPG 的 SAT 多目标动态压缩方法 | 第26-29页 |
| 2.4 测试结果及分析 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-32页 |
| 第3章 基于 FPGA 的时序格式器内核设计 | 第32-43页 |
| 3.1 时序格式器功能 | 第32-36页 |
| 3.1.1 时序事件构架 | 第34-35页 |
| 3.1.2 时序格式器 IP 应用 | 第35-36页 |
| 3.2 IP 核接口定义 | 第36-37页 |
| 3.3 通道逻辑电路 | 第37-41页 |
| 3.3.1 边沿延时生成 | 第37-39页 |
| 3.3.2 驱动控制 | 第39-40页 |
| 3.3.3 比较控制 | 第40-41页 |
| 3.4 时序格式器 IP 控制 | 第41-42页 |
| 3.4.1 状态控制时序 | 第41页 |
| 3.4.2 数据时序 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 音频放大器测试系统设计 | 第43-58页 |
| 4.1 音频放大器自动测试系统总体构架与测试原理 | 第43-44页 |
| 4.1.1 音频放大器测试系统构成 | 第43-44页 |
| 4.1.2 音频放大器测试系统技术指标 | 第44页 |
| 4.2 音频放大器自动测试系统硬件设计 | 第44-50页 |
| 4.2.1 性能测试硬件设计 | 第45-46页 |
| 4.2.2 功能测试硬件设计 | 第46-48页 |
| 4.2.3 通讯接口设计 | 第48-50页 |
| 4.3 音频放大器自动测试系统软件设计 | 第50-57页 |
| 4.3.1 系统上位机软件设计 | 第50-54页 |
| 4.3.2 系统下位机软件设计 | 第54-56页 |
| 4.3.3 系统软件运行结果 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 系统测试结果及分析 | 第58-68页 |
| 5.1 音频放大器性能测试结果及分析 | 第58-64页 |
| 5.2 音频放大器功能测试结果及分析 | 第64-67页 |
| 5.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附录 A (攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第75-76页 |
| 附录 B.1 (音频集成电路自动测试系统实物图) | 第76-77页 |
| 附录 B.2 (音频集成电路自动测试系统下位机主程序) | 第77-84页 |
