闪存控制芯片CR2511老化测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-12页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 行业内研究状况 | 第10-12页 |
| 1.1.2.1 企业量产老化测试 | 第10-11页 |
| 1.1.2.2 应用产品级老化测试 | 第11-12页 |
| 1.1.2.3 企业实验芯片级老化测试 | 第12页 |
| 1.2 论文研究主要内容 | 第12-13页 |
| 1.3 论文章节安排 | 第13-14页 |
| 第2章 相关技术介绍 | 第14-23页 |
| 2.1 存储及测试原理 | 第14-17页 |
| 2.1.1 固定故障 | 第15-16页 |
| 2.1.2 转换故障 | 第16页 |
| 2.1.3 耦合故障 | 第16页 |
| 2.1.4 寻址故障 | 第16-17页 |
| 2.2 SPI协议以及自启动程序 | 第17-18页 |
| 2.3 SOC控制方法 | 第18-19页 |
| 2.4 老化实验介绍 | 第19-20页 |
| 2.5 ATE测试介绍 | 第20-22页 |
| 2.6 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 系统需求分析 | 第23-29页 |
| 3.1 系统硬件需求 | 第23-25页 |
| 3.1.1 老化测试座性能要求 | 第23-24页 |
| 3.1.2 配套分立器件老化性能要求 | 第24页 |
| 3.1.3 电源稳定性需求 | 第24-25页 |
| 3.2 系统功能需求 | 第25-26页 |
| 3.2.1 可重复性 | 第25-26页 |
| 3.2.2 可复制性 | 第26页 |
| 3.3 成本需求 | 第26-27页 |
| 3.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 第4章 系统设计与实现 | 第29-42页 |
| 4.1 实验环境温度计算与设计 | 第29-30页 |
| 4.2 系统实验硬件设计和实现 | 第30-31页 |
| 4.3 电路板设计 | 第31-37页 |
| 4.3.1 DCDC电源设计 | 第31-32页 |
| 4.3.2 单元供电设计控制 | 第32-33页 |
| 4.3.3 固件Flash | 第33-34页 |
| 4.3.4 时钟模块 | 第34-35页 |
| 4.3.5 交互输出指示灯设计 | 第35-37页 |
| 4.4 系统的软件结构设计 | 第37-41页 |
| 4.4.1 配置芯片初始状态 | 第38页 |
| 4.4.2 开启主体模块的老化测试 | 第38-40页 |
| 4.4.2.1 LDO输出档位调节 | 第39页 |
| 4.4.2.2 DCDC档位调节 | 第39页 |
| 4.4.2.3 数字通道间隔输出 | 第39页 |
| 4.4.2.4 USB自传输配置 | 第39页 |
| 4.4.2.5 ROM和RAM的自测试 | 第39-40页 |
| 4.4.3 测试结果检验及显示 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 系统测试 | 第42-54页 |
| 5.1 测试计划 | 第42-44页 |
| 5.1.1 加速系数计算 | 第42-43页 |
| 5.1.2 ELFR测试 | 第43页 |
| 5.1.3 老化HTOL/LTOL测试 | 第43-44页 |
| 5.1.4 老化测试电路板调试的技巧 | 第44页 |
| 5.2 ATE测试 | 第44-48页 |
| 5.2.1 开短路测试 | 第44-45页 |
| 5.2.2 LDO电源测试 | 第45页 |
| 5.2.3 静态电流测试 | 第45-46页 |
| 5.2.4 扫描连测试 | 第46页 |
| 5.2.5 输入输出管脚的漏电流测试 | 第46-47页 |
| 5.2.6 上下拉电阻测试 | 第47页 |
| 5.2.7 USB自环回测试 | 第47-48页 |
| 5.2.8 存储内建自测试 | 第48页 |
| 5.3 测试数据分析 | 第48-51页 |
| 5.3.1 ELFR测试数据总结 | 第48-49页 |
| 5.3.2 HTOL测试数据总结 | 第49-51页 |
| 5.4 老化系统耐久度测试 | 第51-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第6章 项目总结 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
