一种低功耗确定性内建自测试技术研究与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 测试技术的发展 | 第9-10页 |
| 1.1.2 低功耗BIST的研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 低功耗BIST的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 论文的结构 | 第14-15页 |
| 2 基于单跳变技术的低功耗BIST研究概述 | 第15-33页 |
| 2.1 BIST技术概述 | 第15-21页 |
| 2.1.1 BIST组成结构 | 第15-18页 |
| 2.1.2 并行/串行测试方式 | 第18-19页 |
| 2.1.3 测试矢量生成方式 | 第19-21页 |
| 2.2 功耗的评估与分析 | 第21-23页 |
| 2.2.1 功耗的评估方法 | 第21-22页 |
| 2.2.2 低功耗分析 | 第22-23页 |
| 2.3 单跳变技术概述 | 第23-32页 |
| 2.3.1 单跳变技术的基本原理和优势 | 第23-26页 |
| 2.3.2 单跳变技术特性研究和建模分析 | 第26-29页 |
| 2.3.3 伪随机单跳变方案举例说明 | 第29-31页 |
| 2.3.4 确定性单跳变方案举例说明 | 第31-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 3 基于单双跳变的低功耗确定性BIST的研究 | 第33-48页 |
| 3.1 基于单双跳变的BIST生成器结构 | 第33-38页 |
| 3.1.1 生成器基本单元结构和工作情况说明 | 第33-34页 |
| 3.1.2 生成器整体电路结构和工作情况说明 | 第34-38页 |
| 3.2 种子压缩算法和3种x指定算法 | 第38-46页 |
| 3.2.1 种子压缩算法 | 第38-41页 |
| 3.2.2 x指定算法1 | 第41-43页 |
| 3.2.3 x指定算法2 | 第43-44页 |
| 3.2.4 x指定算法3 | 第44-46页 |
| 3.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 4 实验结果仿真与分析 | 第48-59页 |
| 4.1 仿真结果与分析 | 第48-53页 |
| 4.1.1 3种x指定算法的仿真结果与分析 | 第48-50页 |
| 4.1.2 多种测试方案的仿真结果与分析 | 第50-53页 |
| 4.2 BIST向量生成器的硬件实现 | 第53-57页 |
| 4.3 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
