小时延测试向量产生与关键通路选择方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 测试的基本概念与理论 | 第13-21页 |
| 1.2.1 测试类型 | 第13-14页 |
| 1.2.2 故障类型与故障模型 | 第14-17页 |
| 1.2.3 可测试性分析 | 第17-18页 |
| 1.2.4 测试产生过程及方法 | 第18-21页 |
| 1.3 本文研究的意义及目的 | 第21-22页 |
| 1.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第2章 时延缺陷相关概念与测试产生方法概述 | 第23-33页 |
| 2.1 引言 | 第23-25页 |
| 2.2 时延测试应用方法 | 第25-29页 |
| 2.2.1 慢速时钟组合测试 | 第25-26页 |
| 2.2.2 增强型扫描测试 | 第26-27页 |
| 2.2.3 常规扫描时序电路测试 | 第27-28页 |
| 2.2.4 可变时钟非扫描时序测试 | 第28-29页 |
| 2.2.5 额定时钟非扫描时序测试 | 第29页 |
| 2.3 时延故障的功能测试与结构测试 | 第29-31页 |
| 2.4 小时延测试产生方法 | 第31-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 用不同敏化方法提高小时延缺陷的故障覆盖率 | 第33-43页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 方法概述 | 第33-36页 |
| 3.3 测试流程 | 第36-37页 |
| 3.4 静态定时分析与可测路径选择 | 第37-41页 |
| 3.4.1 静态定时分析 | 第37-38页 |
| 3.4.2 关键路径选择 | 第38-39页 |
| 3.4.3 通路选择方法 | 第39-41页 |
| 3.5 实验数据 | 第41-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于统计定时模型的关键路径查找 | 第43-53页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 基于蒙特-卡罗方法的统计定时分析个案研究 | 第43-45页 |
| 4.2.1 SDF样本文件产生器 | 第44页 |
| 4.2.2 基于蒙特-卡罗方法的统计定时分析结果 | 第44-45页 |
| 4.3 关键通路判断标准 | 第45-48页 |
| 4.4 关键通路选择流程 | 第48-50页 |
| 4.5 伪穷举策略 | 第50-51页 |
| 4.6 实验结果 | 第51-52页 |
| 4.7 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 附录A 硕士在读期间发表的论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
