DSP处理器的功能测试
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| 1.1 课题背景 | 第7-8页 |
| 1.2 集成电路功能测试的研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3 半导体技术的发展对测试的影响 | 第9页 |
| 1.4 课题研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.5 本文的内容及章节安排 | 第10-11页 |
| 第二章 集成电路测试概述 | 第11-23页 |
| 2.1 集成电路测试的定义 | 第11-12页 |
| 2.2 集成电路测试的分类 | 第12-16页 |
| 2.2.1 按测试目的分类 | 第12-14页 |
| 2.2.2 按测试内容分类 | 第14-15页 |
| 2.2.3 按测试器件的类型分类 | 第15-16页 |
| 2.3 测试效率 | 第16页 |
| 2.4 数字集成电路测试概述 | 第16-19页 |
| 2.4.1 数字集成电路测试的基本原理 | 第16-18页 |
| 2.4.2 典型的数字集成电路测试顺序 | 第18-19页 |
| 2.5 内建自测试 | 第19-23页 |
| 第三章 处理器的功能测试 | 第23-36页 |
| 3.1 SBST的测试流程 | 第23-24页 |
| 3.2 SBST的测试方法分类 | 第24-27页 |
| 3.2.1 伪随机SBST测试方法 | 第24-25页 |
| 3.2.2 确定性SBST测试方法 | 第25-27页 |
| 3.3 伪随机SBST与其它测试方法的比较 | 第27-32页 |
| 3.4 基于模块和RTL级的SBST测试方法 | 第32-34页 |
| 3.5 总结与展望 | 第34-36页 |
| 第四章 ADSP-2181的功能测试 | 第36-56页 |
| 4.1 ADSP-2181的测试概要 | 第36-39页 |
| 4.1.1 测试方法 | 第36页 |
| 4.1.2 测试步骤 | 第36-37页 |
| 4.1.3 模块的测试流程 | 第37页 |
| 4.1.4 测试数据的处理 | 第37-39页 |
| 4.2 ALU的测试 | 第39-44页 |
| 4.2.1 ALU的结构 | 第39-40页 |
| 4.2.2 ALU的功能 | 第40-41页 |
| 4.2.3 ALU的测试及仿真结果 | 第41-44页 |
| 4.3 MAC的测试 | 第44-48页 |
| 4.3.1 MAC的结构 | 第44-46页 |
| 4.3.2 MAC的功能 | 第46-47页 |
| 4.3.3 MAC的测试及仿真结果 | 第47-48页 |
| 4.4 移位器的测试 | 第48-52页 |
| 4.4.1 移位器的结构 | 第48-50页 |
| 4.4.2 移位器的功能 | 第50-51页 |
| 4.4.3 移位器的测试及仿真结果 | 第51-52页 |
| 4.5 DAG的测试 | 第52-56页 |
| 4.5.1 DAG的结构 | 第52-53页 |
| 4.5.2 DAG执行的操作 | 第53页 |
| 4.5.3 DAG的测试及仿真结果 | 第53-56页 |
| 第五章 DSP测试向量的故障覆盖率分析 | 第56-61页 |
| 5.1 故障模拟所用的故障模型 | 第56-57页 |
| 5.2 故障检测和故障模拟 | 第57-59页 |
| 5.3 故障覆盖率分析 | 第59-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
