| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题的背景及研究意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 论文的研究内容及组织结构 | 第15-16页 |
| 第二章 模拟前端芯片测试系统总体方案设计 | 第16-24页 |
| 2.1 AFE 芯片的工作原理及动态性能参数 | 第16-21页 |
| 2.2 模拟前端芯片传统的测试手段 | 第21-22页 |
| 2.3 虚拟仪器构成的新型测试系统 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 新型 xDSL 模拟前端芯片测试系统软硬件设计 | 第24-43页 |
| 3.1 测试项目 | 第24页 |
| 3.2 测试系统硬件设计 | 第24-33页 |
| 3.2.1 测试系统硬件设计总体方案考虑 | 第24-25页 |
| 3.2.2 测试信号源产生和采集模块设计 | 第25-27页 |
| 3.2.3 测试系统与 AFE 芯片通信模块设计 | 第27-28页 |
| 3.2.4 FPGA 与数字信号产生和采集模块的接口设计 | 第28-33页 |
| 3.3 测试系统软件设计 | 第33-42页 |
| 3.3.1 基于事件的生产者消费者 LabVIEW 程序设计方法 | 第33-35页 |
| 3.3.2 测试系统主程序设计 | 第35-36页 |
| 3.3.3 Matlab 和 LabVIEW 通信界面设计 | 第36-37页 |
| 3.3.4 直流电源 PXI-4130 模块设计 | 第37-38页 |
| 3.3.5 任意波形发生器 PXI-5450 模块设计 | 第38-39页 |
| 3.3.6 数字发生器和采集卡 PXI-6548 模块设计 | 第39-41页 |
| 3.3.7 数字化仪 PXI-5762 模块设计 | 第41页 |
| 3.3.8 ADC 与 DAC 输入输出显示模块设计 | 第41-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 xDSL 模拟前端芯片测试系统测试实施 | 第43-59页 |
| 4.1 RX 通路测试实施 | 第43-51页 |
| 4.1.1 RX 通路扫频、扫幅测试 | 第44-47页 |
| 4.1.2 RX 通路 MTPR 测试 | 第47-49页 |
| 4.1.3 RX 通路 IMD 测试 | 第49-51页 |
| 4.2 TX 通路测试实施 | 第51-58页 |
| 4.2.1 TX 通路的扫频、扫幅测试 | 第51-54页 |
| 4.2.2 TX 通路 MTPR 测试 | 第54-56页 |
| 4.2.3 TX 通路 IMD 测试 | 第56-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附件 | 第66页 |
