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基于VMM方法学的背光控制IP的验证

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
1. 绪论第11-14页
    1.1 课题研究的意义第11页
    1.2 芯片验证的发展史和现状第11-13页
    1.3 课题章节安排第13-14页
2 集成电路的功能验证方法第14-23页
    2.1 SystemVerilog 语言简介第14-15页
    2.2 VMM 验证平台第15-16页
    2.3 VMM 验证方法学特点第16-18页
        2.3.1 层次化的验证平台第16页
        2.3.2 随机约束第16页
        2.3.3 覆盖率驱动第16-17页
        2.3.4 断言第17-18页
    2.4 VMM 标准库第18-22页
        2.4.1 vmm_log 类第18-19页
        2.4.2 vmm_data 类第19页
        2.4.3 vmm_channel 类第19-20页
        2.4.4 vmm_xactor 类第20页
        2.4.5 vmm_env 类第20-22页
    2.5 本章小结第22-23页
3 背光控制 IP 的结构及其验证方案第23-31页
    3.1 背光控制 IP 的应用环境第23-24页
    3.2 背光控制 IP 的结构及各模块功能第24-25页
    3.3 背光控制 IP 的接口说明第25-27页
    3.4 验证策略第27页
    3.5 测试点分析第27-30页
    3.6 本章小结第30-31页
4 验证平台搭建第31-49页
    4.1 interface第32-33页
    4.2 参考模型 RM第33-34页
    4.3 vga_config第34-35页
    4.4 APB 配置接口验证模块第35-37页
        4.4.1 apb_BFM第35-37页
    4.5 vga 输入接口验证模块第37-39页
        4.5.1 vga_generator第38页
        4.5.2 vga_Driver第38-39页
    4.6 vga 输出接口验证模块第39-40页
        4.6.1 vga_monitor第39页
        4.6.2 scoreboard第39-40页
    4.7 SPI 接口验证模块第40-42页
        4.7.1 spi_monitor第41-42页
        4.7.2 SPI 传输数据正确性校对第42页
    4.8 验证环境 env第42-43页
    4.9 testcase第43-44页
    4.10 验证平台的顶层第44-46页
    4.11 验证环境的调试与仿真第46-48页
        4.11.1 验证环境的文件结构第46-47页
        4.11.2 验证环境的单独调试第47页
        4.11.3 验证环境与 RTL 代码的联调第47-48页
    4.12 本章小结第48-49页
5 验证结果及分析第49-57页
    5.1 验证 bug 的检出第49-50页
    5.2 验证结果第50-55页
        5.2.1 比对结果第50-53页
        5.2.2 功能覆盖率第53-54页
        5.2.3 代码覆盖率第54-55页
    5.3 验证完备性分析第55-56页
    5.4 验证平台自动化和重用性分析第56页
    5.5 本章小结第56-57页
6 总结与展望第57-59页
    6.1 全文总结第57页
    6.2 展望第57-59页
参考文献第59-61页
致谢第61-62页
个人简历第62页
发表的学术论文第62-63页

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