基于FPGA的电路板多功能测试仪设计与开发
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 研究背景、目的及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
1.3 研究结构安排 | 第14-15页 |
第2章 测试仪的硬件设计 | 第15-29页 |
2.1 多功能测试仪介绍 | 第15页 |
2.2 仪器的总体功能说明 | 第15-16页 |
2.3 仪器的硬件结构 | 第16-28页 |
2.3.1 电源模块 | 第17-19页 |
2.3.2 单片机模块 | 第19-20页 |
2.3.3 FPGA模块 | 第20-25页 |
2.3.4 ADC模块 | 第25-26页 |
2.3.5 LCD模块 | 第26页 |
2.3.6 Relay模块 | 第26-27页 |
2.3.7 PCB设计 | 第27-28页 |
2.4 本章小结 | 第28-29页 |
第3章 主控制器FPGA设计 | 第29-42页 |
3.1 FPGA概述 | 第29页 |
3.2 FPGA开发流程 | 第29-31页 |
3.3 FPGA的配置方式概述 | 第31-32页 |
3.4 FPGA总体设计 | 第32-34页 |
3.4.1 FPGA功能模块说明 | 第32-33页 |
3.4.2 复位信号设计 | 第33页 |
3.4.3 数据交换设计 | 第33-34页 |
3.5 FPGA模块接口设计 | 第34-41页 |
3.5.1 仪器的通讯结构 | 第34-36页 |
3.5.2 FPGA主模块设计 | 第36-38页 |
3.5.3 ADC模块接口设计 | 第38-39页 |
3.5.4 频率计接口设计 | 第39-40页 |
3.5.5 通用接口设计 | 第40-41页 |
3.6 本章小结 | 第41-42页 |
第4章 电压信号采集设计 | 第42-52页 |
4.1 ADC概述 | 第42-45页 |
4.1.1 并行比较型ADC概述 | 第42-43页 |
4.1.2 逐次逼近型ADC概述 | 第43-45页 |
4.2 AD7490芯片驱动设计 | 第45-51页 |
4.2.1 AD7490概述 | 第45-46页 |
4.2.2 AD7490硬件接口 | 第46-47页 |
4.2.3 AD7490控制寄存器 | 第47-48页 |
4.2.4 ADC采集FPGA设计 | 第48-51页 |
4.3 本章小结 | 第51-52页 |
第5章 数字频率计设计 | 第52-62页 |
5.1 频率计概述 | 第52-57页 |
5.1.1 直接测频法 | 第53-54页 |
5.1.2 测周期法 | 第54-55页 |
5.1.3 等精度测量法 | 第55-57页 |
5.2 频率计FPGA功能模块设计 | 第57-61页 |
5.2.1 频率计设计要求分析 | 第57页 |
5.2.2 频率计FPGA设计 | 第57-61页 |
5.3 本章小结 | 第61-62页 |
第6章 通用接口设计 | 第62-74页 |
6.1 通用接口概述 | 第62-63页 |
6.2 RS-232接口设计 | 第63-65页 |
6.2.1 RS-232概述 | 第63页 |
6.2.2 串口设计模块划分 | 第63-65页 |
6.2.3 接收器模块设计 | 第65页 |
6.3 IIC接口设计 | 第65-70页 |
6.3.1 IIC概述 | 第65页 |
6.3.2 IIC总线的协议原理 | 第65-68页 |
6.3.3 IICFPGA驱动设计 | 第68-70页 |
6.4 SPI接口设计 | 第70-73页 |
6.4.1 SPI概述 | 第70-71页 |
6.4.2 SPI总线的协议原理 | 第71-72页 |
6.4.3 SPIFPGA驱动设计 | 第72-73页 |
6.5 本章小结 | 第73-74页 |
第7章 测试与验证 | 第74-83页 |
7.1 时序验证 | 第74-80页 |
7.1.1 AD7490时序验证 | 第74-76页 |
7.1.2 频率计时序验证 | 第76-78页 |
7.1.3 RS232时序验证 | 第78-79页 |
7.1.4 IIC时序验证 | 第79页 |
7.1.5 SPI时序验证 | 第79页 |
7.1.6 LCD时序验证 | 第79-80页 |
7.1.7 其他功能说明 | 第80页 |
7.2 实际应用 | 第80-83页 |
第8章 总结与展望 | 第83-84页 |
8.1 总结 | 第83页 |
8.2 展望 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-87页 |
致谢 | 第87页 |