基于FDR编码的高效测试数据压缩扫描树结构研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 测试面临的困难 | 第13-14页 |
| 1.3 测试数据压缩研究现状 | 第14-16页 |
| 1.4 主要研究内容及结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 集成电路测试理论 | 第18-37页 |
| 2.1 基本的集成电路测试方法 | 第18页 |
| 2.2 数字电路测试原理 | 第18-19页 |
| 2.3 故障模型 | 第19-21页 |
| 2.3.1 固定故障 | 第20-21页 |
| 2.3.2 延时故障 | 第21页 |
| 2.3.3 跳变故障 | 第21页 |
| 2.4 测试产生 | 第21-26页 |
| 2.4.1 D算法 | 第23-25页 |
| 2.4.2 PODEM | 第25-26页 |
| 2.5 扫描测试 | 第26-28页 |
| 2.6 编码压缩方法 | 第28-36页 |
| 2.6.1 基于编码方法 | 第28-32页 |
| 2.6.2 线性解压 | 第32-34页 |
| 2.6.3 广播压缩方法 | 第34-36页 |
| 2.7 小结 | 第36-37页 |
| 第3章 基于高效扫描树结构的压缩方案 | 第37-47页 |
| 3.1 扫描树技术 | 第37-38页 |
| 3.2 FDR编码 | 第38-41页 |
| 3.3 扫描树技术和FDR编码的压缩效率 | 第41-42页 |
| 3.4 确定位1的降低 | 第42页 |
| 3.5 扫描树构建方法 | 第42-44页 |
| 3.6 实验结果 | 第44-46页 |
| 3.7 小结 | 第46-47页 |
| 第4章 布线优化方案 | 第47-56页 |
| 4.1 线长 | 第47-48页 |
| 4.2 旅行商问题 | 第48页 |
| 4.3 便宜算法 | 第48-52页 |
| 4.4 线长优化算法 | 第52-54页 |
| 4.5 实验结果 | 第54-55页 |
| 4.6 小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第63页 |
