提高IC测试并行度及其程序优化的研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| 1.1 本课题的研究背景及意义 | 第7页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第7-8页 |
| 1.3 研究目的及内容 | 第8-9页 |
| 第二章 测试原理及自动测试机简介 | 第9-33页 |
| 2.1 测试原理及方法 | 第9-18页 |
| 2.1.1 直流参数测试 | 第9-13页 |
| 2.1.2 交流参数测试 | 第13-15页 |
| 2.1.3 功能测试 | 第15-18页 |
| 2.2 泰瑞达J750 测试系统简介 | 第18-24页 |
| 2.2.1 泰瑞达J750 测试系统标准配置 | 第19-20页 |
| 2.2.2 各种测试板简介 | 第20-23页 |
| 2.2.3 系统校准 | 第23-24页 |
| 2.3 测试系统的升级 | 第24-25页 |
| 2.4 同步方法简介 | 第25-26页 |
| 2.5 J750 同步方法设计 | 第26-31页 |
| 2.5.1 测试真值表简介 | 第26-27页 |
| 2.5.2 同步方法VBT 方法介绍 | 第27-31页 |
| 2.6 如何在测试流程中添加同步方法 | 第31-33页 |
| 第三章 提高并行度测试转接板的设计 | 第33-47页 |
| 3.1 测试转接板简介 | 第33页 |
| 3.2 PCB 布线通用规则 | 第33-34页 |
| 3.3 电源和地线的布线规则 | 第34-36页 |
| 3.3.1 电源及地线的布线注意事项 | 第34-35页 |
| 3.3.2 数字电路与模拟电路的共地处理 | 第35-36页 |
| 3.4 新的测试转接板的设计 | 第36-39页 |
| 3.5 过孔简介以及如何应对 | 第39-47页 |
| 第四章 存储器测试原理及方法 | 第47-61页 |
| 4.1 老化测试芯片可靠性 | 第47页 |
| 4.2 存储器性能优化 | 第47-49页 |
| 4.3 老化测试系统简介 | 第49-53页 |
| 4.4 老化测试次品自动筛选 | 第53-59页 |
| 4.5 存储器测试的几种方法 | 第59-61页 |
| 第五章 测试程序的优化 | 第61-74页 |
| 5.1 测试转接板继电器切换的问题研究 | 第61-64页 |
| 5.2 测试转接板编码的自动读取 | 第64-65页 |
| 5.3 测试并行转串行测试方法 | 第65-66页 |
| 5.4 测试程序调试的几种方法 | 第66-71页 |
| 5.4.1 测试波形调节时序 | 第66-69页 |
| 5.4.2 Shmoo 方法调节参数 | 第69-71页 |
| 5.5 测试程序中参数的自动调节 | 第71-74页 |
| 第六章 ECID 在测试中的应用 | 第74-79页 |
| 6.1 ECID 简介 | 第74页 |
| 6.2 ECID 程序中的应用 | 第74-77页 |
| 6.3 应用ECID 进行的分析 | 第77-79页 |
| 第七章 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
