| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 变动性理论相关研究 | 第10页 |
| 1.2.2 制造系统性能分析和评估研究 | 第10-12页 |
| 1.3 本文研究目标与研究内容 | 第12-13页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 半导体芯片封装测试生产线及基础理论介绍 | 第15-31页 |
| 2.1 半导体制造简介及特点 | 第15-17页 |
| 2.2 变动性分类及度量理论 | 第17-27页 |
| 2.2.1 变动性与随机性的关系 | 第17-19页 |
| 2.2.2 变动性度量指标的定义 | 第19-21页 |
| 2.2.3 加工变动性的基本度量 | 第21-25页 |
| 2.2.4 流动变动性的基本度量 | 第25-27页 |
| 2.3 变动性与生产性能指标的基本关系 | 第27-30页 |
| 2.3.1 生产线的三大性能指标及相互关系 | 第27-28页 |
| 2.3.2 变动性与单工站生产性能指标的关系 | 第28-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 生产线变动性度量的改进 | 第31-50页 |
| 3.1 芯片封装测试生产线变动性度量难点分析 | 第31-32页 |
| 3.2 加工变动性度量模型的改进 | 第32-44页 |
| 3.2.1 多产品混流加工变动性度量 | 第33-36页 |
| 3.2.2 基于SVR的并联link加工变动性度量 | 第36-44页 |
| 3.3 流动变动性度量模型的改进 | 第44-47页 |
| 3.4 变动性度量验证 | 第47-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 基于变动性度量的生产性能预测与评估 | 第50-68页 |
| 4.1 基于变动性度量的生产性能预测模型 | 第50-55页 |
| 4.1.1 生产线结构抽象 | 第50-51页 |
| 4.1.2 预测模型建立 | 第51-53页 |
| 4.1.3 模型数据获取 | 第53-55页 |
| 4.2 基于三大标杆法的生产性能评估 | 第55-59页 |
| 4.2.1 性能定性评估 | 第55-58页 |
| 4.2.2 性能定量评估 | 第58-59页 |
| 4.3 性能预测评估算例及验证 | 第59-67页 |
| 4.3.1 性能预测模型验证 | 第59-66页 |
| 4.3.2 性能评估实例 | 第66-67页 |
| 4.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 变动性度量及性能评估系统设计与实现 | 第68-79页 |
| 5.1 系统总体功能设计 | 第68-70页 |
| 5.2 系统的开发及实现 | 第70-78页 |
| 5.2.1 系统开发流程说明 | 第70-71页 |
| 5.2.2 系统数据库设计 | 第71-72页 |
| 5.2.3 系统功能实现 | 第72-74页 |
| 5.2.4 系统实现结果 | 第74-78页 |
| 5.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 全文总结 | 第79页 |
| 6.2 展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第85页 |