集成电路测试数据编码压缩方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第11页 |
| 1.1.2 研究的意义 | 第11-13页 |
| 1.2 SOC 测试的基本理论知识 | 第13-20页 |
| 1.2.1 测试的定义 | 第13-14页 |
| 1.2.2 SOC 测试基本原理及结构 | 第14-16页 |
| 1.2.3 测试向量生成 | 第16-17页 |
| 1.2.4 测试故障模型 | 第17-18页 |
| 1.2.5 SOC 测试面临的挑战 | 第18-20页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第20-21页 |
| 1.4 本文主要工作及组织结构 | 第21-22页 |
| 第2章 测试数据压缩研究概述 | 第22-37页 |
| 2.1 测试集中的无关位 | 第22-24页 |
| 2.2 测试数据压缩方法 | 第24-36页 |
| 2.2.1 编码压缩方法 | 第24-32页 |
| 2.2.2 广播式压缩方法 | 第32-35页 |
| 2.2.3 逻辑变换压缩方法 | 第35-36页 |
| 2.3 小结 | 第36-37页 |
| 第3章 基于一位标识的测试向量混合编码压缩方法 | 第37-47页 |
| 3.1 双前缀游程编码 | 第37-39页 |
| 3.1.1 双前缀单游程编码 | 第38-39页 |
| 3.1.2 双前缀双游程编码 | 第39页 |
| 3.2 混合编码 | 第39-41页 |
| 3.3 压缩方法改进 | 第41-43页 |
| 3.3.1 向量分组 | 第41-42页 |
| 3.3.2 最佳 R 值的确定 | 第42-43页 |
| 3.4 解压器设计 | 第43-45页 |
| 3.5 实验结果与分析 | 第45-46页 |
| 3.6 小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于测试向量重排序的差分编码压缩方法 | 第47-54页 |
| 4.1 FDR 码 | 第47-48页 |
| 4.2 差分编码压缩 | 第48-52页 |
| 4.2.1 向量排列 | 第49-50页 |
| 4.2.2 编码实例 | 第50-51页 |
| 4.2.3 解压结构 | 第51-52页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第52-53页 |
| 4.4 小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
